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(pressebox) (Waldbronn, 27.10.2011) Die Polytec GmbH aus Waldbronn, seit Jahren mit faseroptischer Sensorik und LWL-Messgeräten am Markt, hat ihr Produktprogramm mit dem faseroptischen Temperatur- und Dehnungsmesssystem OdiSI deutlich erweitert. Das System nutzt die von einer Standardglasfaser zurückgestreute Rayleigh-Streuung um lokale Temperatur- und Dehnungsänderungen zu erfassen. Dabei wirkt jeder Punkt der Faser als Sensor, so dass quasi-kontinuierlich verteilte Messungen durchgeführt werden können. Pro Scan werden alle Messpunkte gleichzeitig ausgelesen, was mit einer Rate von bis zu 3 Hz möglich ist. Der Temperaturmessbereich reicht von -50 bis +700 Grad Celsius, der Dehnungsmessbereich beträgt +/- 15.000 Microstrain. Die Messauflösung liegt bei 0,1 Grad Celsius, beziehungsweise +/- 1 Microstrain. Dabei sind Messstrecken bis zu 50 Meter möglich bei einer räumlichen Auflösung im Millimeterbereich.
Als Messleitung kann eine kostengünstige Standard-Glasfaser aus dem Telekombereich eingesetzt werden, was die Betriebskosten auf einem niedrigen Niveau hält. Das OdiSI ist speziell auf Temperatur- und Dehnungsmessungen ausgelegt und ermöglicht auch dem ungeübten Anwender einen schnellen Einstieg durch die sehr bedienungsfreundliche Nutzeroberfläche.
Die Vorteile der faseroptischen Sensorik gegenüber herkömmlichen elektrischen Sensorsystemen - die völlige Unempfindlichkeit gegen elektromagnetische Einflüsse, Korrosionsbeständigkeit, einfaches Handling und die Integration aller Sensoren in einer einzigen Glasfaser – ergeben in Verbindung mit Spezialfasern für Sonderanwendungen ein breites Einsatzfeld: Von der Materialstruktur-Überwachung, Modell- und Simulationsvalidierung, Prozessoptimierung für Windkraftturbinen, Generatoren-, Transformatoren- und Temperaturüberwachungssystemen über Produktion und Überwachung von Composite-Materialien bis hin zu Last-, Ermüdungs- und mechanischen Tests reichen die Einsatzgebiete.
Mehr Informationen zu OdiSI-System unter www.polytec.de/odisi
Ansprechpartner:
Frau Christina Petzhold
Operatives Marketing
Telefon: +49 (7243) 604-368
Zuständigkeitsbereich: Presse- und Öffentlichkeitsarbeit
Über POLYTEC GmbH:
Polytec wurde 1967 gegründet und bot als Pionier in Deutschland erstmalig kommerzielle Lasertechnologie für Industrie und Forschung an. Aufbauend auf dem Erfolg im Distributionsgeschäft begann Polytec in den 70er Jahren mit der Entwicklung und der Fertigung eigener, innovativer, laser-basierter Messgeräte.
Gestern wie auch heute wird der weltweite Standard für laser-basierte Schwingungs-, Geschwindigkeits- und Längenmesssysteme von Polytec Produkten definiert. Die Entwicklung von High-Tech-Produkten ist bei Polytec eine strategische Kernaktivität und hat neben den Lösungen aus dem Bereich optische Messsysteme zu einer Palette von weiteren Eigenprodukten in den Anwendungsgebieten Oberflächenmesstechnik, Analytische Messtechnik, Noise Analysis und Prozessautomation geführt.
Unsere weltweiten Aktivitäten
Polytec ist ein weltweit tätiges Unternehmen mit Niederlassungen in Europa, Nord-Amerika und Asien. In der internationalen Fachwelt genießt Polytec eine hervorragende Reputation für innovative Produkte, herausragende Qualität und erstklassigen Service.
Die innovativen Lösungen von Polytec erlauben unseren Kunden, eigene technologische Führungsstärke in den unterschiedlichsten Bereichen zu behaupten. In Märkten von Automobilbau, Luft- und Raumfahrttechnik und Maschinenbau über Data Storage, Microsystemtechnik und Nanotechnologie bis hin zu Biologie und Medizin wird das Vertrauen der Kunden in Polytec und seine Produkte immer wieder bestätigt. Weiterhin stellt die Distribution exzellenter High-Tech-Produkte anderer innovativer Hersteller eine Kernkompetenz von Polytec dar.
Bei Polytec sind wir der höchstmöglichen Zufriedenheit unserer Kunden verpflichtet und bieten deshalb neben exzellenten Produkten über unsere Niederlassungen in Europa, Nord-Amerika und Asien direkt vor Ort auch Service, Support und Anwendungsunterstützung. Polytec ist seit 1994 ISO-zertifiziert, zuletzt nach DIN EN ISO 9001:2000.
"Advancing measurements by light"
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