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Testverfahren in der Elektronikfertigung Whitepaper: Der Trend hin zur Miniaturisierung

Lesen Sie in ProMiks neuem Whitepaper alles über die verschiedenen Testmethoden in der Elektronikfertigung! Im Bereich der Testmethoden für die Mikroelektronik zeichnet sich ein deutlicher Trend hin zur Miniaturisierung ab. Die Beweggründe für diesen Wandel sowie umfassende Einblicke in verschiedene Techniken und Anwendungsszenarien können Sie in unserem neuesten Whitepaper nachlesen. ProMiks Leistungen im Bereich Testen umfassen zum einen Funktionstests, SMART ICT, Boundary Scan und mehr.

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ProMiks Zusammenarbeit mit dem 32-Bit TRAVEO™ T2G Arm® Cortex® Microcontroller

Vereinen Sie Hochleistung, Mensch-Maschine-Schnittstellen, hohe Sicherheit und Vernetzungsprotokolle! Nach der Integration von Cypress führt Infineon die neue MCU-Produktionslinie ein - den TRAVEO™ T2G. Basierend auf dem Arm® Cortex®-M4/M7-Kern bietet der 32-Bit TRAVEO™ T2G Arm® Cortex®-Microcontroller diverse hochleistungs-Features. ProMik bietet eine vollumfängliche Unterstützung - von der In-System-Programmierung via SWD, Boundary Scan und mehr.

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