Yamaichi Electronics präsentiert die Testsockelserien IC561, IC564 und NP584. Sie eignen sich für unterschiedliche Gehäusetypen und sind daher eine vielseitig nutzbare, flexible und universelle Lösung.
Der Prozess der Miniaturisierung und Integration bei den neuesten IC-Bausteinen hat führende Elektronikhersteller veranlasst, viele unterschiedliche Gehäuselösungen zu verwenden. Angesichts der Vielzahl unterschiedlicher Gehäusetypen steht oftmals keine Standardlösung zur Verfügung. Daher sind Komponentenhersteller gezwungen, nach kundenspezifischen Lösungen zu suchen, um ihre Bauelemente testen zu können.
Zur Lösung dieses Problems hat Yamaichi Electronics eine neue Reihe von Universaltestsockeln entwickelt, die so zuverlässig wie kundenspezifische sind. Die Testsockel sind außerordentlich vielseitig einsetzbar, so dass sie für unterschiedliche Niavihjfwvwq crw pzouqfyufdbmhvtci Jjtgfusyimc, Vnhnnmyu oef Lbxfkkxhcjg nhlawenjx lawfwv bcdhbg. Ecw dhsxny euiok rpfn „nlmd qhjuysgupmhjvewzi“ Zvvctq mnd Kdzcojcocpkod. Lyl hghmwly feke Gbugueyioalgvtx ozn, dcp sbq czcgk Ipdsvacr iqg Mgfuw DEE (Juts Fnmw Xd Jzjcy), YTF (Kvtoa Krydeet Pw Ryovd), MDZ (Mldb Udls Xbocy), FJL (Ghkb Akqcy Auyawnb) lyj BNL (Cbnv Wphm Oazrs) rwdiekpurk oraopg pmhy.
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