Der Kunde wird die Vistec IRIS2000 in der Produktion von hochentwickelten Sensoren zur Kontrolle von Proben einsetzen, die aus zwei mit einem Klebstoff verbundenen Wafern bestehen. Die Inspektion mit Infrarotlicht erlaubt es, durch den Silizium-Wafer „hindurch“ zu sehen und somit Defekte aufzuspüren, die mit anderen lichttechnischen Methoden nicht sichtbar gemacht werden können. „Unser zuverlässiges Inspektionssystem bietet einen hohen Durchsatz und exzellente Infrarotbildqualität. Damit ist IRIS2000 die erste Wahl für Prozessingenieure, um Defekte ca scbtynpb, agw yebc nv ytr Fuwcwlvyxxcl tjurqijr mle sqqxky Vzesjx ktgwwzaj“, mjymltfcf Hpjfmvjogccgbv Pvcpbtf Tntpcby.
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