Die Vistec Semiconductor Systems GmbH (ehemals Leica Microsystems Semiconductor GmbH) erhielt von einem japanischen Sensorhersteller zwei Aufträge für das vollautomatische Infrarot Inspektions- und Reviewsystem IRIS2000 im Wert von über einer Million Euro. Die Lieferung der ersten Maschine erfolgte im Dezember 2006.
Der japanische Kunde wird die neu entwickelte IRIS2000 in der Produktion zur Kontrolle von Proben einsetzen, die aus zwei mit einem Klebstoff verbundenen Wafern bestehen. Die Inspektion mit Infrarotlicht erlaubt es, durch den Silizium-Wafer "hindurch" zu sehen und somit Defekte aufzuspüren, die mit anderen lichttechnischen Methoden nicht sichtbar gemacht werden können.
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Der japanische Kunde wird die neu entwickelte IRIS2000 in der Produktion zur Kontrolle von Proben einsetzen, die aus zwei mit einem Klebstoff verbundenen Wafern bestehen. Die Inspektion mit Infrarotlicht erlaubt es, durch den Silizium-Wafer "hindurch" zu sehen und somit Defekte aufzuspüren, die mit anderen lichttechnischen Methoden nicht sichtbar gemacht werden können.
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