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PID-Resistenz von Sharp Solar-Modulen bestätigt

Sharp überzeugt in unabhängigem Testverfahren des Fraunhofer CSP

(PresseBox) (Hamburg, )
Sharp Solarmodule sind PID resistent[1] - dies ist dem japanischen Technologiekonzern nun offiziell vom Fraunhofer Center für Silizium-Photovoltaik (CSP) bestätigt worden. Je ein Modul 13 namhafter Hersteller wurde vom Fraunhofer CSP in einem unabhängigen Verfahren bei 50°C und einer relativen Luftfeuchte von 50 Prozent auf potentialinduzierte Degradation (PID) getestet. PID kann bei negativen Spannungen gegenüber der Erde auftreten und wird durch hohe Systemspannungen, Temperaturen und Luftfeuchte beschleunigt. Ledglich vier der 13 geprüften Module bestand den Test und wies keine Anzeichen von Degradation auf. Die übrigen Module anderer Hersteller verzeichneten teilweise starke Leistungseinbrüche von bis zu 98 Prozent im Vergleich zur Byxnfkwbkkilfkqt.

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