Neues Modul R&S TS-PHDT zum Test von komplexen Schaltkreisen

Schneller digitaler Funktionstest mit der Systemplattform R&S CompactTSVP

München, (PresseBox) - Die PXI-basierte Produktionstestplattform R&S CompactTSVP von Rohde & Schwarz ermöglicht durch eine neue Option einen schnellen, digitalen Funktionstest auch dort, wo große Datenmengen zu handhaben sind. Das neue High-Speed Digital Test Modul R&S TS-PHDT verfügt über eine maximale Datenrate von 40 MHz und einen 1,5 GByte großen Speicher. Sämtliche für den Test einer elektronischen Baugruppe benötigten Stimulus-, Soll- und Ist-Daten werden vollständig lokal gespeichert. Der Echtzeitvergleich von Ist- und Solldaten auf dem Modul vermeidet eine Übertragung der Testdaten auf den System Controller und spart dadurch wertvolle Prüfzeit ein.

Rohde & Schwarz hat das kompakte Test-Modul R&S TS PHDT in enger Zusammenarbeit mit der Business Unit RF und Automotive von Atmel® entwickelt, einem der führenden Halbleiterhersteller. Konzipiert wurde die neue Option speziell für die gestiegenen Anforderungen im digitalen
Funktionstest: Der Trend geht zur Verwendung von immer komplexeren digitalen Schaltkreisen auf elektronischen Baugruppen. Daher muss auch die Messtechnik hinsichtlich Speichertiefe, Echtzeitauswertung und Pegelprogrammierung den gestiegenen Anforderungen gerecht werden. Auf Basis von PXI steht dem Markt mit dem R&S TS PHDT nun erstmals eine entsprechende Lösung zur Verfügung.

In der Initialisierungsphase eines Funktionstests werden die Stimulus- und die Solldaten des Testobjekts einmalig auf den lokalen 1,5 GByte-Speicher (3 x 64 Msamples) des Test-Moduls übertragen. Ab dann stehen sämtliche Testfälle sofort und ohne weitere Ladezeit zur Verfügung. Die integrierte Auswerte-Hardware vergleicht in Echtzeit die Soll-Daten mit den aufgezeichneten Ist-Daten und protokolliert die Abweichungen. Die sofortige Pass/Fail-Aussage liefert Informationen zu den fehlerhaften Prüfschritten, wie beispielsweise Fehleranzahl oder ausgefallene Kanäle, ohne die Testdaten zum System Controller zu übertragen. Des Weiteren können Anwender mit dem Modul nicht-flüchtige Speicher in Mikro-Controllern und Flash-Bausteinen programmieren sowie digitale Steuer- oder Prozessorbusse simulieren.

Das Platz sparende High-Speed Digital Test Modul R&S TS-PHDT belegt nur einen Slot der R&S CompactTSVP-Plattform. Zur Bedienung stehen ein Softpanel sowie ein Treiber im dll-Format bereit. Das Modul wird über den PCI-Bus der Testplattform gesteuert. Über die PXI-Triggerfunktionalität lässt es sich mit weiteren R&S TS-PHDT-Modulen sowie mit anderen Rohde & Schwarz- oder PXI-Mess- und Stimulusmodulen synchronisieren. Die Anzahl der Digitalkanäle für zusätzliche Prüfschritte von analogen sowie digitalen Signalen ist dadurch sehr einfach zu erweitern.
Das High-Speed Digital Test Modul R&S TS-PHDT ist ab sofort bei Rohde & Schwarz erhältlich.

Atmel

Atmel ist ein weltweit führendes Unternehmen im Bereich Design und Herstellung von Mikrocontrollern, hochentwickelter Logik, Mixed-Signal-Schaltkreisen, nichtflüchtigen Speichern und Hochfrequenz-
(HF) Bauelementen. Basierend auf einem der größten IP-Technologie-Bestände der Industrie ist Atmel in der Lage, der Elektronik-Industrie komplette Systemlösungen für Consumer-, Industrie-, Sicherheits-, Kommunikations-,
Computer- und Automobil-Anwendungen zu liefern.
Atmel® ist ein registriertes Warenzeichen der Atmel Corporation.

Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG

Der Elektronikkonzern Rohde & Schwarz ist ein führender Lösungsanbieter in den Arbeitsgebieten Messtechnik, Rundfunk, Funküberwachung und -ortung sowie sichere Kommunikation. Vor 75 Jahren gegründet ist das selbstständige Unternehmen mit seinen Dienstleistungen und einem engmaschigen Servicenetz in über 70 Ländern der Welt präsent. Rund 7.200 Mitarbeiter erwirtschafteten im Geschäftsjahr 06/07 (Juli bis Juni) einen Umsatz von 1,4 Milliarden Euro. Der Firmensitz ist in Deutschland (München).

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