BTX Profiler von Olympus - kombinierter XRD-XRF Analysator für die umfassende Materialanalyse

Revolutionäre "Mars-erprobte" Materialanalyse

(PresseBox) ( Hamburg, )
Olympus stellt ein neues Tischgerät vor, welches die Röntgendiffraktometrie (X-ray diffraction, XRD) und die Röntgen-fluoreszenzanalyse (X-ray-fluorescence, XRF/RFA) in einem Gerät vereint. Das BTX Profiler baut auf die revolutionäre Röntgendiffraktometrie-Technologie auf, die vom Rover "Curiosity" (einem Teil des erfolgreichen NASA-Programms "Mars Science Laboratory") genutzt wird sowie auf die anerkannte, preisgekrönte, erdgebundene Technologie der Röntgendiffraktometrie- und Röntgenfluoreszenz-Analyse der Geräte von Olympus. Das BTX Profiler kombiniert diese Methoden und liefert sowohl die strukturelle als auch die elementare Zusammensetzung. Aufgrund dieser Kombination ist das BTX Profiler sehr wirtschaftlich, spart Raum und Zeit ein und integriert darüber hinaus fließend Prüfdaten und Ergebnisse.

Das BTX Profiler reduziert Ineffizienzen, welche bei konventionellen Diffraktometriesystemen auftreten. Seine auf engstem Raum gekoppelte Transmissions-Geometrie ermöglicht eine geringe Röhrenleistung und minimale Probenmengen. Zum durchdachten Probenhandling gehört ein patentiertes Vibrationssystem, das die Kristalle in einer festen Probenzelle in zufällige Anordnung bringt. Der CCD-Detektor mit seiner intelligenten Energiediskriminierung liefert zweidimensionale, grafische Beugungs- oder Ringmuster und erfasst mehr Daten in kürzerer Zeit als konventionelle Röntgendiffraktometrie-Detektoren.

Die energiedispersive Röntgenfluoreszenztechnologie im BTX Profiler verbindet wählbare, optimierte Strahlenergien der Miniaturröntgenröhre und Spezialfilter mit der Platz sparenden Anordnung von Probe und Detektor. Dadurch kann ein weiter Bereich an Elementen und Konzentrationen gemessen werden.

Die Kombination all dieser Merkmale verringert die Betriebskosten, den Platzbedarf sowie die Messzeit und liefert schnell präzise Analysedaten. Seine hohe Kapazität zur zerstörungsfreien Prüfung ist in vielen Industriebereichen von besonderer Bedeutung, wie beispielsweise in der Energiegewinnung, der Geochemie, Pharmaindustrie, Katalysator-herstellung, Kriminaltechnik sowie in der Forschung und Lehre.

Über Olympus Inspection & Measurement Systems - IMS / ANI

Unser Ziel ist es zuverlässige und wirtschaftliche Prüf- und Inspektions-systeme zu liefern, die weltweit die Sicherheit und Produktivität des Einzelnen und der Umwelt verbessern und zum allgemeinen Fortschritt beitragen. Wir wollen innovative Technologien, Produkte und Dienste aktiv weiterentwickeln, um die besten Lösungen für unsere Kunden zu erzielen.
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