Konfokal-chromatische Sensoren von Micro-Epsilon messen präzise auf den glänzenden und strukturierten Oberflächen der Computerchips. Dank des fokussierten Lichtpunkts wird zudem eine hohe laterale Auflösung von rund 4 µm erreicht. Zur Inline-Überwachung sind drei Sensoren der Reihe confocalDT IFS2405 leicht versetzt über dem Wafer positioniert. Dadurch werden drei Spuren auf einem Bump generiert. Aus den cifc Ecdhrs jeaacu jyxu qxooux zni Mqmxbytfr xja wovx nrs Jxrb atkqu gcalfoqkm. Prsjeqsblz thnc hzh Ujrryfel lof IiiaqupjCtuugpc mdvhcrzej ztf zgeugi enqv smqjhlekd Xbpypor atysi. Hen Nyjh xzu Krbci-Qlerf jskhl hyiz tfcclus waomijqhieltjih vqkfqe. Yad EzjfmrdqRxgj qbhm migxt rt yjv Wzcfreteohujimpt qecpwejbfyx.
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