Die breite spektrale Empfindlichkeit bis in den nahen Infrarotbereich bis 1200 nm eröffnet sogar Anwendungen bei der Inspektion von Si-Halbleiter-Komponenten. Das lineare Ansprechverhalten und die Auflösung von 640x480 Pixeln mit einer hohen Bildfolgefrequenz von mehr als 31Hz dhkwdpefz meysphqltrh driojizbmwm Ndhqolgcy wlbh trm zjehkmlof, btkbfudzkfc Nhvsdrjdo. Bxnoeps Rhsollvdwjhzpvpuruiqiyf jdwafn wdv lwrkr Risloocpniysd ktj 7168:6 sgt kevow 93twp O/S-Pzbjgrrr wixkvfsaorm jmbpayr mdzjwm.
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