Internationales Anwendertreffen für zerstörungsfreie Prüfung mit industrielle Radiographie und Computertomographie

10. GE X-ray Forum in der Metropolregion Hamburg

(PresseBox) ( Wunstorf / Ahrensburg, )
Um die Anwender seiner industriellen Röntgen- und CT-Systeme besser untereinander zu vernetzen, neue Technologie- und Lösungsansätze vorzustellen und in Praxiskursen an Software und Systemen zu schulen, lädt GE Inspection Technologies vom 16.-18. Juni 2014 zu seinem mittlerweile 10. Anwenderforum nach Ahrensburg/Hamburg ein. Das Spektrum reicht von mobiler digitaler Röntgeninspektion von Öl- und Gaspipelines über und unter Wasser über Anwendungen in der materialwissenschaftlichen Forschung mit hochauflösender nanoCT® bis hin zur industriellen Qualitätsanalyse und Produktionsprozesskontrolle. Digitale Radiographie und Computertomographie erleben momentan in Forschung und industrieller Prozesskontrolle eine rasante Verbreitung. Es gibt kaum noch eine Disziplin, in der zerstörungsfreie Qualitätskontrolle, 3D Metrologie oder Mikrostrukturanalyse mit CT nicht zu neuen Erkenntnissen führen und traditionelle zeitaufwändige und zerstörende Untersuchungsmethoden ersetzt werden. Während an den ersten beiden Tagen Anwendervorträge beispielsweise über den vielfältigen CT-Einsatz im Volkswagenkonzern im Vordergrund stehen, folgt am dritten Tag eine Besichtigung des Ahrensburger GE Werkes mit anschließenden praktischen System- und Softwareworkshops.

Die Veranstaltung dient dem Erfahrungsaustausch von Röntgen- und CT-Anwendern aus aller Welt, beispielsweise aus der materialwissenschaftlichen Forschung, der 3D Metrologie oder der industriellen Qualitätsüberwachung von Guss- oder Kompositbauteilen aus dem Automobil- und Luftfahrtbereich. Auch hochauflösende Elektronikinspektion ist ein Thema, genauso wie kabellose Digitaldetektoren für besonders effiziente digitale Feld-Radiographie. Neben der Theorie gibt es auch wieder praktische Trainings: Nicht nur, wie man mit den GE Systemen noch schneller zu noch besseren Ergebnissen kommt, sondern auch über Neuerungen bei der CT Auswertungssoftware von Volume Graphics (VGStudio MAX) und FEI (AVIZO). Abgerundet wird das Programm von einer Führung durch das GE Seifert Werk Ahrensburg mit Live-Demonstrationen zahlreicher Produktneuheiten wie z.B. der nächsten Generation des neuen extrem schnellen GE speed|scan Helix-CT Systems. Damit bietet das X-ray Forum eine ideale Möglichkeit für Anwender und Interessenten an Radiographie- und CT-Technologie, sich über zukünftige Trends, praktische Anwendungen und neueste Technologien zu informieren und zugleich ihr Anwenderwissen zu erweitern

Für nähere Informationen und zur Teilnehmerregistrierung besuchen Sie bitte http://www.ge-mcs.com/en/xray-forum
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