FRT zeigt auf der diesjährigen internationalen Photovoltaikausstellung PVSEC neue, budgetfreundliche Messtechnik, die passgenau auf Aufgabenstellungen in der Photovoltaikentwicklung und -produktion zugeschnitten ist. Mit Mikro- und Nanometerauflösung werden Rauheit, Kontur und 3D-Topographie sowie die Dicke sehr dünner Beschichtungen gemessen. Live-Testmessungen können direkt am FRT Stand (B5/42) mit dem neuen optischen Profilometer MicroSpy Profile durchgeführt werden. Auch für die Messung der Schichtdicke steht entsprechende Technik zur Vorführung bereit.
Mit dem neuen 3-D Oberflächenmessgerät MicroSpy Profile und dem Schichtdickenmessgerät MicroSpy FT ergänzen die FRT-Experten das erstmals 2008 vorgestellte Konfokalmikroskop MicroSpy Topo um zwei weitere budgetfreundliche Messgeräte, die sich durch hohe Wirtschaftlichkeit und ezeipycx bzxgbhhz Yrrfbjucuryikc (i.A. Pceclus tluo DIV dsi QRT) vagjxddtbqs.
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