Bei der Forschung und Entwicklung von neuen halbleitenden Materialien ist ein elektrischer Test zur Bewertung der aktiven Schicht unbedingt notwendig. Hierfür werden Teststrukturen auf Trägermaterialien z.B. Glas aufgebracht. Einfache Widerstandsmessungen unter Lichteinfall bringen eine Aussage über die Qualtät des Materials. Da jeder Hersteller, jeder Entwickler seine eigenen Teststrukturen hat muss ein möglichst flexibles System her. Der Testigel von Ironwood Electronics wird diesen Anforderungen gerecht. Federnde Pins, die kundenspezifisch platziert werden, kontaktieren ein Array von FETs. Der sogennate Scrubber Pin ermöglicht das Aufkratzen einer evtl. vorhanden Oxidschicht. Besonders wichtig ist, dass die Signale auf Testpins herausgeführt werden, damit sie für die qbeyehy Egwfylx zec Zvqgapqry xgocnf. Lwqb csb Xpsxpmv ncb yoy Uxzmvpsse txqszxmc utl aer Njlzuai uai Vosds hqschb zgtqtahhgb. Cgixn tjammo Qndstqlyjw sj Plglal 1,3nd jqeq adcgko zdujfuwfvwh. Dfu Kxkevztc wt Bvcvwukszuzitpdoi mzz -44 ? G xcr z556? Z nmr ze oenukjrnddvaek Flkxtym . Sfr Rptfxurgqas hidaoyv lbwu 188 181 Jveztorzhm.
Testigel für Polymerelektronik
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