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Pressemitteilung BoxID: 306787 (Carl Zeiss SMT GmbH)
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Erstinstallation bei Pilotkunden

Schnittstelle Shuttle&Find von Carl Zeiss findet positives Echo

(PresseBox) (Oberkochen, ) Gemeinsam mit mehreren Pilotkunden hat Carl Zeiss die Applikationsentwicklung für die korrelative Mikroskopie in der Materialanalyse gestartet und Erstinstallationen der Plattform Shuttle&Find vorgenommen. Im Mittelpunkt steht die Analyse von Gefügen (z.B. Schliffen), Bruch- stellen und Partikeln. Bei all diesen Anwendungen bietet ein reibungsloses Zusammenspiel von Licht- und Elektronenmikroskop Zeit- und Kosten- vorteile, häufig werden geplante Untersuchungen erst durch eine solche Schnittstelle für korrelative Mikroskopie möglich.

So bearbeiten beispielsweise Wissenschaftler des Institute of Materials and Process Engineering der ZHAW in Winterthur (Schweiz) unter anderem die Aufgabe, das sogenannte "ausferritische" Gefüge eines Bainitischen Sphärogusses präzise zu beschreiben und Ausscheidungen sowie Materialeinschlüsse zu analysieren. Christof Scherrer, wissenschaftlicher Mitarbeiter am ZHAW, erläutert: "Gerade bei großen Schliffproben mit Gefügebestandteilen im Mikrometerbereich (hohe Vergrößerungen) macht es die korrelative Mikroskopie überhaupt erst möglich, dieselben Stellen zweifelsfrei wiederzu- finden." Das Material wird wegen seiner besonde- ren Eigenschaften wie Zugfestigkeit und Ver- schleißfestigkeit (Härte) beispielsweise für Getriebe und Verbrennungsmotorkomponenten eingesetzt.

Die erstmals auf der Microscopy Conference in Graz Anfang September präsentierte Schnittstelle Shuttle&Find für die korrelative Mikroskopie in der Materialanalyse ist eine gemeinsame Entwicklung der Bereiche Lichtmikroskopie, Elektronen- mikroskopie und der zentralen Forschung von Carl Zeiss. "Wir haben in Graz ein äußerst positives Echo auf diese Entwicklung erhalten und gleichzeitig viele hilfreiche Anregungen aus der Praxis, die wir in der Zwischenzeit erfolgreich umsetzen konnten", erläutert Projektleiter Martin Edelmann von Carl Zeiss.

Shuttle&Find ist eine einfach zu bedienende Schnittstelle für den Proben- und Bildtransfer zwischen Licht- und Elektronenmikroskop. Sie verbindet aufrechte und inverse Lichtmikroskope vom Typ SteREO Discovery, Axio Imager und Axio Observer mit motorisiertem Tisch sowohl mit sämtlichen aktuellen ZEISS Rasterelektronen- mikroskopen als auch mit den ZEISS CrossBeam Workstations (eine Kombination aus Raster- elektronenmikroskop und fokussiertem Ionen- strahl zur Materialbearbeitung). Hauptaufgabe der Schnittstelle ist es, die im Lichtmikroskop mar- kierte "regionofinterest" im Elektronenmikroskop mit hoher Präzision zu relokalisieren; aber auch der umgekehrte Weg ist möglich, um eine im Elektronenmikroskop gefundene interessante Probenstelle mit den Methoden der Licht- mikroskopie zu untersuchen. Eine zusätzliche Möglichkeit besteht in der Überlagerung der Bilder aus den beiden unterschiedlichen Systemen.

Nach den ersten erfolgreichen Pilotinstallationen ist Shuttle&Find ab sofort erhältlich.

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