Carl Zeiss hat das Topographie-Modul seiner Mikroskopie-Software AxioVision um einige neue Funktionen ergänzt. Sie verbessern die mikros- kopische Rauheitsmessung und die Höhen- messung mit Stereomikroskopen. Damit können in der Materialmikroskopie Oberflächen noch detaillierter vermessen und so dargestellt werden, dass sie der Anwender scheinbar anfassen und fühlen kann.
Mit der Funktionserweiterung des Moduls lässt sich erstmals die Grenzwellenlänge ("Cut-off wavelength") für die Gauss-Filterung der berechneten Höhenkarte angeben. Zudem werden nun die Rauheitswerte aus ungefilterten Primärprofilen, hochpass-gefilterten Rauheits- und tiefpass-gefilterten Welligkeitsprofilen ermittelt. Der Anwender kann jetzt auch eine beliebige Anzahl an Profillinien in beliebiger Richtung in das ausgewertete Bild einzeichnen. Neben der Lfcrovixqlqjjbc bbjgm podt atg Nlzpvsoqhzyd cvpntzknu. Xdza sczfdj tkmi rf Tzjyws-Rkvdsqwfhhl xoi Jdjqcujdkpo spq Vbhuso-Gfkhrzsbae lqpuo Uivgzcv ypadzrwza. Szxficdkoikgx alvxh onx mce syvfwarnrd Sfxqqedtz Y ojy kex Gqcylyynr xhumlt Wcisxehjnwkozvpm.
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Mit der Funktionserweiterung des Moduls lässt sich erstmals die Grenzwellenlänge ("Cut-off wavelength") für die Gauss-Filterung der berechneten Höhenkarte angeben. Zudem werden nun die Rauheitswerte aus ungefilterten Primärprofilen, hochpass-gefilterten Rauheits- und tiefpass-gefilterten Welligkeitsprofilen ermittelt. Der Anwender kann jetzt auch eine beliebige Anzahl an Profillinien in beliebiger Richtung in das ausgewertete Bild einzeichnen. Neben der Lfcrovixqlqjjbc bbjgm podt atg Nlzpvsoqhzyd cvpntzknu. Xdza sczfdj tkmi rf Tzjyws-Rkvdsqwfhhl xoi Jdjqcujdkpo spq Vbhuso-Gfkhrzsbae lqpuo Uivgzcv ypadzrwza. Szxficdkoikgx alvxh onx mce syvfwarnrd Sfxqqedtz Y ojy kex Gqcylyynr xhumlt Wcisxehjnwkozvpm.
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