PresseBox
Pressemitteilung BoxID: 527430 (Carl Zeiss Jena GmbH)
  • Carl Zeiss Jena GmbH
  • Carl-Zeiss-Promenade 10
  • 07740 Jena
  • http://www.zeiss.de
  • Ansprechpartner
  • Jochen Tham
  • +49 (3641) 64-3949

Carl Zeiss stellt Erweiterung der FE-REM-Serie MERLIN vor

(PresseBox) (Jena, Phoenix/Arizona/USA, ) Auf der Konferenz Microscopy & Microanalysis 2012 in Phoenix, Arizona (USA) stellt Carl Zeiss Microscopy eine Erweiterung der MERLIN Plattform für die Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie (FE-REM) vor. Der Kunde kann nun zwischen den Systemen MERLIN Compact, MERLIN VP Compact und MERLIN wählen und diese individuell konfigurieren. Mit der Plug-and-Play-Funktion ergänzt und tauscht er Detektoren mühelos, um Aufgaben von der einfachen Bildaufnahme bis hin zu umfangreichen Materialanalysen zu bewältigen. Dank des großen Bildfeldspeichers von 32k x 24k Pixel lassen sich sehr große Bereiche abbilden. Zu den Neuheiten zählen die Insitu-3D-Oberflächenrekonstruktion, die aus 2D-Daten 3D-Daten berechnet. Der neue in-lens Duo Detektor liefert gleichzeitig hohe Auflösungen und umfangreiche Materialinformationen. MERLIN VP Compact stellt auch nicht leitende Proben ohne Beschichtung in hoher Auflösung dar.

Zwei spezifische Technologien erweitern den Einsatzbereich der MERLIN Plattform. Durch die Integration eines Ultramikrotoms direkt in die Vakuumkammer ist serielles Blockface Imaging von eingebetteten Proben - wie Zellen oder Gewebe - möglich. Biologische Proben lassen sich dreidimensional in Bildgrößen im Voxelbereich abbilden. Ein in die Vakuumkammer integriertes Rasterkraftmikroskop (AFM) kann Proben in atomarer Auflösung darstellen.

Michael Schweitzer, verantwortlich für die FE-REM Produktlinie bei Carl Zeiss, fasst zusammen: "Seit der Einführung des Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops MERLIN im Jahr 2010 haben wir ein überwältigend positives Kundenfeedback erhalten. Mit dieser Erweiterung bieten wir unseren Kunden nun die Technologie, mit der sie ihr System noch besser und gezielter auf die heutigen Anforderungen der Forschung ausrichten können. Der Anwender kann das System jederzeit weiter ausbauen, um es wechselnden Erfordernissen anzupassen. Am spannendsten für mich ist jedoch die Möglichkeit, entweder ein Rasterkraftmikroskop für atomare Auflösungen oder ein Ultramikrotom für serielles Blockface Imaging in die Vakuumkammer zu integrieren."