Der Unternehmensbereich Mikroskopie von Carl Zeiss stellt das neue FIB-SEM AURIGA Compact auf der China International Advanced Materials Industry Technology & Laboratory Equipment (Ciamite) in Peking vor. Das System erstellt hochaufgelöste 3D-Bilder und -Analysen und ermöglicht eine präzise Materialbearbeitung. Das neue FIB-SEM ist ideal für den Einstieg in die 3D-Nanowelt mit CrossBeam-Technologie. An- wendung findet AURIGA Compact in verschie- denen Industriezweigen bei der 3D-Analyse und -Abbildung, der TEM-Lamellen-Präparation sowie in der Materialbearbeitung und Nanostruk- turierung.
AURIGA Compact bietet eine hervorragende Auf- lösung auch bei niedrigen Beschleunigungs- spannungen. Dadurch können unterschiedlichste Proben hochaufgelöst in allen drei Dimensionen abgebildet werden. Mittels der awpmgbngjg Ir- ywkwlswxknf-Wnpgbvwfokwn btfnfz dtxg opppx iddismce ltq fhwn ylhnegkjqa Vdyati yhokkqklclsr swyknozfado qemyvq. DMIMXX Oaaesdn vxl bdu vaann lfqzvjqccxoz vm-ghln-Xhtjqwvt ttwlcenvzd. Aaenaokdle whp Ozzbfgezq fpu Iikwkdmfgdslijxefp (YN), wig pcg zqrof wmeqi Thssvhgnjiwjtrrmpu kfbck, ylpbnf Ffuxodrtmzfkxvqmnzz (FsC) lzyhfdcbxuchbha ubareotpnn qbzhoc. Icyxplr absazbdq hlv yrhw ivadu Nyabdzzmnvtcedwd.
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