Neues T2000-Modul von Advantest verfügt über den branchenweit leistungsfähigsten analogen Digitizer für den kosteneffizienten Test von hochauflösenden Audio-ICs

Der ultrahohe Dynamikbereich des Moduls ermöglicht Messungen von PMIC- und DAC-ICs für Audioanwendungen der nächsten Generation

(PresseBox) ( München, )
Advantest Corporation (TSE: 6857), führender Anbieter von Halbleiter-Testgeräten, hat sein hochauflösendes GPWGD-Modul mit dem branchenweit leistungsstärksten Analog-Digitizer vorgestellt. Das Modul unterstützt die Prüfung von hochauflösenden Audio-Digital-Analog-Wandlern (DACs), die in Power-Management-ICs (PMICs) sowie in hochauflösenden Audiogeräten zu finden sind. Die innovative Messtechnik des Moduls weist einen ultrahohen Dynamikbereich auf und erreicht eine sehr hohe Genauigkeit bei der analogen Prüfung von ICs. Dies gilt von der Charakterisierung bis hin zur Massenproduktion von elektronischen Bauelementen. Für diese Tests sind weder komplexe Performance-Boards noch zusätzliche Prüf- und Messgeräte auf der T2000-Testplattform erforderlich.

Im Vergleich zu CDs bietet hochauflösendes Audio sowohl einen größeren Dynamikumfang als auch eine verbesserte Klangquelle. Die wachsende Verbreitung von hochauflösendem Audio Equipment führt zu einer höheren Anzahl von verbauten PMICs mit eingebetteten Digital-Analog-Wandlern (DACs), die hochdynamische Tests mit 24-Bit- oder 32-Bit-Auflösung erfordern.- Hierzu zählen Smartphones, drahtlose Audiokomponenten für tragbare Elektronik und Heimkinos, Navigationssysteme in Autos, Spielkonsolen, 4K- und 8K-Fernseher und weitere Produkte der nächsten Generation -

Bei Verwendung auf der T2000-Plattform bietet das hochauflösende GPWGD-Modul die Vielseitigkeit, sowohl PMICs als auch hochauflösende Audio-DACs mit derselben Systemkonfiguration zu testen. Dies hilft den Anwendern, ihre Investitionen zu reduzieren und gleichzeitig die Testzeiten zu verkürzen.

Die Aufwärtskompatibilität der Karte und die hochauflösende Funktionalität des Digitizers ermöglichen branchenführende Messungen mit einem Signal-Rausch-Verhältnis (SNR) und einem Dynamikbereich (DR) von 130 dB. Das Modul übertrifft damit das analoge Leistungspotenzial anderer Testsysteme, die typischerweise von Audio-ICs Entwicklern eingesetzt werden. Hinzu kommt, dass die enorme Paralleltestfähigkeit mit der doppelten Testkapazität im Vergleich zu anderen Systemen auf dem Markt zu einem höheren Durchsatz und niedrigeren Testkosten führt.

Das neue hochauflösende GPWGD-Modul lässt sich durch sein erweiterbares Design problemlos in Labor- oder Produktionsumgebungen für bestehende Gerätetypen sowie neue hochauflösende Audio-ICs integrieren.
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