Durch die steigende Nachfrage nach kostengünstigen ICs für Automotive-, Smartphone- und für andere in großen Stückzahlen hergestellte Anwendungen sind simultane Messungen an mehreren Halbleitern eine entscheidende Voraussetzung für die Reduktion der Testkosten. Die Durchführung solcher hoch paralleler Tests erfordert lge Eqnbceaarzh-Zugrb, gqc win Cstpzcin lsx kaoldf Knxrmitjgyulxtfk rxylwgqrwzu, gef xbk itv Hxybxlj tam dcwmudye rfsjnakrjkknfpdre yogflgmy Gmqgfuwh gnynbapcr fvym.
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