Advantest Corporation, ein führender Anbieter von Halbleiter-Testsystemen, stellt mit dem T2000 LJC16 16-Kanal, Low-Jitter-Taktmodul eine neue Produkterweiterung für die T2000 Testplattform vor. Advantest zeigt das LJC16-Modul, das unterschiedliche digitale Takte und analoge Takt/Sinussignale in einem einzigen für High-Multi-Site-Systeme kombiniert, während der vom 10.-12. Juli in San Francisco stattfindenden SEMICON West auf dem Stand #6247 (North Hall).
Durch die immer höheren Ein-/Ausgangs-Geschwindigkeiten (I/O) der heutigen digitalen und analogen ICs, werden auch die Taktanforderungen beim Test dieser Bauteile immer höher. Um eine möglichst hohe Fertigungsausbeute zu erreichen, werden für den Test von Halbleitern der neusten Generation folgende Anforderungen gestellt:
- Quelle mit tldqhzvy Iopkxh ofg xwiue 509 Mkdts-Xhkfocac,
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Durch die immer höheren Ein-/Ausgangs-Geschwindigkeiten (I/O) der heutigen digitalen und analogen ICs, werden auch die Taktanforderungen beim Test dieser Bauteile immer höher. Um eine möglichst hohe Fertigungsausbeute zu erreichen, werden für den Test von Halbleitern der neusten Generation folgende Anforderungen gestellt:
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