Die Tsinghua Universität in China setzt Advantest's T5830ES und T5833ES Memory Tester zu Ausbildungszwecken ein

Führende akademische Einrichtung in China nutzt die Systeme von Advantest als einzigartige Plattformen, um Studenten in der Entwicklung von Speicher-Technologien auszubilden

(PresseBox) ( München, Deutschland, )
Advantest Corporation (TSE: 6857), ein führender Anbieter von Halbleiter-Testsystemen, hat zwei Engineering-Teststationen - ein T5830ES und ein T5833ES System - an die Tsinghua University verkauft. Die Systeme werden im Fachbereich Mikroelektronik und Nanoelektronik der in China führenden Universität installiert. Studenten aus dem Bereich der Chip-Entwicklung sollen anhand der Advantest Testsysteme lernen, wie SPI-NOR-Flash-Speicherbauteile (Serial Peripheral Interface) geprüft werden. Der Einsatz dieser Speicherchips in Displays und mobiler Elektronik wächst zunehmend.

"Wir freuen uns über die Fortsetzung der Zusammenarbeit mit der Tsinghua Universität, die großen Einfluss auf den chinesischen Halbleitermarkt hat und uns hilft, die Leistungsfähigkeit unserer Tester auch in den Design-Häusern in China zu demonstrieren", sagt Xu Yong, CEO von Advantest China. "Unsere Testlösungen für innovative Speicherbauelemente werden in ganz China genutzt, um die schnell wachsenden Märkte, wie z.B. Internet der Dinge und Smartcards (Chipkarten) zu bedienen.

Der T5830ES Memory Tester ist ein Engineering System, das für äußerst kostengünstige Tests von unterschiedlichsten Flash-Memory-Bauteilen optimiert ist. Die flexible Plattform wurde speziell im Hinblick auf einen hohen ROI (Return on Investment) und ein geringes finanzielles Risiko für Anwender entwickelt. Das System unterstützt Datenübertragungsraten von bis zu 800 Megabit pro Sekunde (Mbps).

Durch die skalierbare, integrierte Hochstromarchitektur der programmierbaren Stromversorgung (PPS) lassen sich mit dem System sowohl ein Wafer-Test als auch ein Endtest von Flash-Speichern mit niedrigen und hohen Pin-Zahlen durchführen. Wie die anderen Mitglieder der T5800 Produktfamilie basiert das System auf dem innovativen Tester-per-Site-Design™ von Advantest, aufgrund dessen jede Site unabhängig operieren kann. Zudem ermöglicht diese Technologie sehr schnelle Testzeiten und niedrigere Testkosten. Die FutureSuite™ Software der Systeme gewährleistet außerdem eine erhöhte Zuverlässigkeit und Ausbaufähigkeit.

Das multifunktionale T5833ES Engineering System von Advantest wurde sowohl für den Wafer-Test als auch für den Endtest von Memory-ICs wie LPDDR3 DRAMs, High-Speed-NAND-Flash-Bauteile und nicht-flüchtige Speicher der nächsten Generation konzipiert. Neben der Unterstützung von KGD-Tests (Known Good Die) mit Geschwindigkeiten von bis zu 2,4 Gigabit pro Sekunde (Gbps) zeichnet sich das T5833ES System durch eine flexible Site-CPU-Architektur mit mehreren CPUs für eine optimale Steuerung der Testprozesse aus.

Das System bietet ausgezeichnete Fähigkeiten im Bereich Fehleranalyse, auch bekannt als Speicher-Redundanz. Beide Funktionen sind skalierbar, indem Anpassungen, wie beispielsweise das Hinzufügen von weiteren CPUs für Berechnungen, vorgenommen werden.
Für die oben stehenden Pressemitteilungen, das angezeigte Event bzw. das Stellenangebot sowie für das angezeigte Bild- und Tonmaterial ist allein der jeweils angegebene Herausgeber (siehe Firmeninfo bei Klick auf Bild/Meldungstitel oder Firmeninfo rechte Spalte) verantwortlich. Dieser ist in der Regel auch Urheber der Pressetexte sowie der angehängten Bild-, Ton- und Informationsmaterialien.
Die Nutzung von hier veröffentlichten Informationen zur Eigeninformation und redaktionellen Weiterverarbeitung ist in der Regel kostenfrei. Bitte klären Sie vor einer Weiterverwendung urheberrechtliche Fragen mit dem angegebenen Herausgeber. Bei Veröffentlichung senden Sie bitte ein Belegexemplar an service@pressebox.de.