Advantest Corporation (TSE: 6857), ein führender Anbieter von Halbleiter-Testlösungen, stellt mit dem neuen Memory-Tester T5822 das neueste Mitglied seiner T5800 Produktserie vor. Dieser ist für den Test von DRAM-, NAND- und anderen nicht-flüchtigen Speicher-Bauteilen auf Wafer-Ebene optimiert. Derartige Bauteile kommen in tragbaren elektronischen Geräten zum Einsatz.
Da mobile Anwendungen derzeit boomen, benötigen die Halbleiter-Hersteller kostengünstige Lösungen zur Prüfung großer Stückzahlen verschiedener preissensitiver Memory-ICs. Der T5822 wurde entwickelt, um den Herstellern von Speicher-Bauteilen einen kosteneffizienten und optimierten Test mit voller Testabdeckung zu ermöglichen. Dabei lassen sich bis zu 1.536 Bauteile parallel mit Datenraten von bis zu 1,2 Gigabit pro Sekunde (Gbps) agzwdf.
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Da mobile Anwendungen derzeit boomen, benötigen die Halbleiter-Hersteller kostengünstige Lösungen zur Prüfung großer Stückzahlen verschiedener preissensitiver Memory-ICs. Der T5822 wurde entwickelt, um den Herstellern von Speicher-Bauteilen einen kosteneffizienten und optimierten Test mit voller Testabdeckung zu ermöglichen. Dabei lassen sich bis zu 1.536 Bauteile parallel mit Datenraten von bis zu 1,2 Gigabit pro Sekunde (Gbps) agzwdf.
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