Advantest stellt neues T2000 8 Gbps Digital-Modul für den schnellen Test von SoCs mit seriellen-, parallelen- und Speicher-Schnittstellen vor

Advantest Corporation, führender Anbieter von Halbleiter-Testsystemen, hat das neue T2000 8G Digital-Modul speziell für die Testanforderungen von System-on-Chip (SoC) Bauteilen mit schnellen seriellen-, parallelen- und Speicher-Schnittstellen, wie PCI-Express und DDR-Verbindungen (Double Data Rate) entwickelt. Advantest stellt das neue Modul auf der SEMICON Japan (Stand #8C-901 in Halle 8) vor, die vom 5. bis 7. Dezember auf dem Makuhari Messegelände in Tokio stattfindet.

Das T2000 8GDM eignet sich für den Test von verschiedenen SoC-Schnittstellen mit Datenraten bis zu 8 Gbps. Zu den wichtigsten Funktionen gehören die Takt- und Datenrückgewinnung (CDR), Jitter Injection, I/O Dead Band Cancellation und ein Multi-Strobe-Betrieb. Das Modul ist in Kombination mit dem Enhanced Performance Package (EPP) verfügbar und erlaubt eine "Functional Test Abstraction (FTA)", welches die Zykluszeiten weiter verkürzt und das Debugging optimiert.

"Durch die hohe Leistungsfähigkeit können wir mit dem neuen T2000 8G Digital Modul unseren Marktanteil beim Test komplexer SoC-Bauteile mit schnellen Schnittstellen in Multi-time Domains ausbauen", sagt Dr. Toshiyuki Okayasu, Executive Officer und Executive Vice President der SoC Test Business Group von Advantest Corporation. "Sowohl die FTA- als auch die EPP-Funktionen erlauben einen Funktionstest dieser Bauteile auf Systemebene."

Die Module und Tester von Advantest zeichnen sich nicht nur durch hohe Leistungsfähigkeit aus, sondern reduzieren auch die Testkosten wesentlich. Durch den hohen Durchsatz, die Multi-User-Umgebungen und simultanen Testmöglichkeiten verkürzen sie zudem die Time-to-Market.

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