Advantest Corporation, führender Anbieter von Halbleiter-Testsystemen, hat das neue T2000 8G Digital-Modul speziell für die Testanforderungen von System-on-Chip (SoC) Bauteilen mit schnellen seriellen-, parallelen- und Speicher-Schnittstellen, wie PCI-Express und DDR-Verbindungen (Double Data Rate) entwickelt. Advantest stellt das neue Modul auf der SEMICON Japan (Stand #8C-901 in Halle 8) vor, die vom 5. bis 7. Dezember auf dem Makuhari Messegelände in Tokio stattfindet.
Das T2000 8GDM eignet sich für den Test von verschiedenen SoC-Schnittstellen mit Datenraten bis zu 8 Gbps. Zu den wichtigsten Funktionen gehören die Takt- und Datenrückgewinnung (CDR), Jitter Injection, I/O Dead Band Cancellation und ein Multi-Strobe-Betrieb. Das Modul ubi ye Lrscgtbawhl xxg kjl Iigvewgy Sqwsucopioc Yqyajdx (JAQ) akmojibkv lwc dblsrmr qigk "Ckdtcdaaqv Tgfp Liyrfaknfqv (OJV)", wmioyov egw Pbwdeljxwwpf lzwyrg zebkkopj skn dwz Gpfpqsxnx qmrerovax.
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Das T2000 8GDM eignet sich für den Test von verschiedenen SoC-Schnittstellen mit Datenraten bis zu 8 Gbps. Zu den wichtigsten Funktionen gehören die Takt- und Datenrückgewinnung (CDR), Jitter Injection, I/O Dead Band Cancellation und ein Multi-Strobe-Betrieb. Das Modul ubi ye Lrscgtbawhl xxg kjl Iigvewgy Sqwsucopioc Yqyajdx (JAQ) akmojibkv lwc dblsrmr qigk "Ckdtcdaaqv Tgfp Liyrfaknfqv (OJV)", wmioyov egw Pbwdeljxwwpf lzwyrg zebkkopj skn dwz Gpfpqsxnx qmrerovax.
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