Advantest stellt neuen dynamischen Test-Handler M7522 vor

Technologisch führende Funktionalität ermöglicht Handling von LCD-Treiber-ICs mit höchster Geschwindigkeit und Präzision

(PresseBox) ( München, )
Advantest (Europe) GmbH, der weltweit führende Anbieter von Testlösungen für Halbleiter, stellt seinen neuen dynamischen Test-Handler M7522 vor. Der Handler erreicht den derzeit höchstmöglichen Durchsatz und die beste Positioniergenauigkeit für Bauteile im TAB- (Tape Automated Bonding) und COF-Gehäuse (Chip-on-Film) mit kleinem Rastermaß, die in LCD-Panels zum Einsatz kommen. Der dynamische Testhandler M7522 ist ab August 2008 verfügbar und wird zusammen mit dem LCD-Treiber Testsystem T6373 während der vom 3. bis 5. Juni im Tokyo International Forum stattfindenden "Advantest Tour de Force 2008" gezeigt.

Steigende Anforderungen und stärkerer Wettbewerb auf dem LCD-Markt

Technologischer Fortschritt und optimierte Geschäftsmodelle in der Halbleiterindustrie führen zu kontinuierlich fallenden Preisen für LCD-Panels, die unter anderem in Fernsehgeräten und Computermonitoren verwendet werden. Umgekehrt erfordert die steigende Nachfrage nach Geräten mit höher Darstellungsqualität den Einsatz von Bauteilen mit hohen Pinzahlen, die entsprechend kostspieliger zu produzieren sind. Der LCD-Markt wird auch in den kommenden Jahren weiter wachsen und zwar nicht nur in den Industrie-, sondern auch in Schwellenländern. Dadurch wird die Nachfrage nach Fernsehgeräten mit Flachbildschirm von mehr als 100 Millionen Einheiten im Jahr 2009 auf 150 Millionen Einheiten im Jahr 2012 voraussichtlich stark ansteigen. Damit wird auch ein starkes Wachstum bei den entsprechenden Treiber-ICs für diese LCD-Panels erwartet. Fallende Preise bei Fernsehgeräten mit Flachbildschirm haben den Wettbewerb zwischen den Herstellern darüber hinaus weiter verschärft, so dass das Ausbeuteverbesserung und Erhöhung des Testdurchsatzes derzeit zu den wichtigsten Aufgaben in der Produktion von LCD-Treiber-ICs zählen. Advantest hat die Handling-Fähigkeiten seines dynamischen Test-Handlers M7522 speziell im Hinblick auf diese Anforderungen verbessert.

Eigenschaften und Vorteile

- Kürzeste Indexzeit von 0,7 Sekunden ermöglicht höchste Testeffizienz Der neu entwickelte Zuführungsmechanismus des M7522 nutzt einen Hochleistungsservomotor, der eine technologisch führende Indexzeit von 0,7 Sekunden für Bauteile in Tape- und Film-Gehäusen ermöglicht. Der derzeit höchste Durchsatz in der Industrie trägt entscheidend zur Senkung der Testkosten bei.

- Fortschrittliche Positionierungstechnologie für höchste Leistung

-Verbesserte Positioniergenauigkeit ermöglicht deutlich höhere Ausbeute Das optische System des Handlers zur Positionierung des Bauteils auf der Probekarte ist jetzt doppelt so leistungsfähig wie beim Vorgängermodell von Advantest und ermöglicht nun mit ± 3 µm die derzeit beste Positioniergenauigkeit. Es unterstützt ebenfalls die Kontaktierung von Fine-Pitch Treiber-ICs für die mit einer immer höheren Auflösung ausgestatteten LCDs. Auch dies trägt zur weiteren Verbesserung der Ausbeute bei.

-Hochgenaue Kontaktierung macht Testpads überflüssig Der Kontakt zwischen dem Bauteil und der Testspitze wird gegenwärtig mittels Testpads auf dem Bauteil-Tape hergestellt. Nach dem Test werden diese Testpads entfernt. Durch die verbesserte Positioniergenauigkeit des M7522 ist eine hochpräzise Kontaktierung möglich, sogar ohne Testpads, was eine deutliche Senkung der Materialkosten erlaubt.

-Automatisierte Probekartenausrichtung vereinfacht Betrieb Die neuen automatisierten Positionierfunktionen für Bauteile und Probekarten des M7522 erfordern eine höhere Genauigkeit und vermeiden auch die mit einem manuellen Betrieb verbundenen Probleme. Die Automatisierung des Prozesses ermöglicht eine genauere Platzierung innerhalb kürzerer Zeit, zudem können durch die genauere Kontaktierung des Handlers viele der neueren Tape-Trends unterstützt werden.

-Automatisierte Wartung der Probekarten Die Überprüfung auf beschädigte Nadelspitzen und die Reinigung können nun automatisch bei Bedarf ausgeführt werden, was ebenfalls eine höhere Ausbeute und eine beträchtliche Reduzierung des Arbeitsaufwands ermöglicht.

Technische Daten

Gehäusetypen: TAB, COF (35 mm/48 mm/70 mm), Wide- und Super-Wide-Typen
Rollendurchmesser: bis zu 620 mm
Bauteillänge: Bis zu 28 Perforation Pitch

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