Advantest stellt kompaktes T2000 GS Testsystem mit innovativem Applikationsmodul für den digitalen Test auf der SEMICON Japan vor

Kompakte T2000 Testlösung ermöglicht kostengünstigen SoC-Test

(PresseBox) ( München, )
Advantest Corporation stellt auf der vom 5.-7. Dezember in der Makuhari Messe in Chiba stattfindenden SEMICON Japan eine innovative Testlösung vor, die den kostengünstigen Test von SoC-Bauteilen, verwendet unter anderem in digitalen Consumer-Produkten und in der Fahrzeugelektronik, ermöglicht. Die im Santa Clara R&D Center von Advantest entwickelte kompakte Testlösung integriert das innovative T2000 GS Testsystem und 250MDMA digital Testmodul für den parallelen und kostengünstigen Test von SoC-Bauteilen auf Basis der OPENSTAR® konformen T2000 Testplattform.

Consumer-Markt benötigt große Spanne von SoC Bausteinen, von "General Purpose" bis "Speciality"

Im Consumer-Elektronik-, Audio- und Automotive-Bereich breiten sich, getrieben vom stetig wachsenden Anwenderwunsch nach mehr Komfort, verbesserter Sicherheit und innovativen Funktionen, rechnergestützte und auf Halbleitertechnologien basierende Produkte rasant aus. SoC-Bauteile sind im Wesentlichen die treibende Kraft für die Elektronikfunktion dieser Produkte, weshalb für den SoC-Markt bis 2012 ein stabiles Wachstum mit einer jährlichen Steigerungsrate von 7% vorausgesagt wird.

Während in den neusten Consumer-, Audio- und Mobiltelefonprodukten besonders leistungsfähige, fokussierte und damit auch teure Bauteile zum Einsatz kommen, nimmt allgemein auch die Zahl weniger komplexer aber universell einsetzbarer SoC Bauteile permanent zu. Im Hinblick auf diesen recht uneinheitlichen Markt fordern Halbleiterhersteller effiziente und kostengünstige Testlösungen, die es ermöglichen, SoC Bausteine mit großer Applikationsbreite, hohem Produktmix, auch bei kleineren Stückzahlen, erfolgreich zu fertigen. Die neue kompakte T2000 Testlösung von Advantest wurde speziell für diesen Anwendungsbereich entwickelt.

Eigenschaften und Vorteile

Advantest bietet mit der 2003 vorgestellten T2000 Testsystemserie eine umfassende Palette von Highend- und Mid-Range Testlösungen für SoC-Consumer-Bauteile an. Die neuste Produktinnovation der OPENSTAR ® konformen T2000 Testsysteme Familie, zu der auch das im Juni 2007 vorgestellte T2000 LS System gehört, ist die kompakte T2000 GS Testlösung mit innovativen Design mit dem neuen 250MDMA digitalen Testmodul, beides zusammen ermöglicht den parallelen Test von SoC-Bauteilen mit niedrigen Pinzahlen. Es bietet:

Kompaktes T2000 GS Testsystem:

- Der 13-Slot-Testkopf erfordert eine Standfläche, die nur halb so groß wie die des Vorläufers ist. Die kompakte Bauweise erlaubt eine optimale Platzausnutzung sowohl während der Entwicklungsphase als auch in der Serienfertigung
- Das luftgekühlte Design bietet höchste Flexibilität, unterschiedlichste Konfigurationen und eine einfache Instandhaltung
- Kombiniert mit weiteren bereits verfügbaren Testmodulen steht ein breites Spektrum unterschiedlicher Testlösungen auf Basis einer einzigen Testerplattform zur Verfügung

Luftgekühltes 250MDMA Digitale Testmodul ermöglicht einen hochparallelen Test von SoC-Bauteilen:

- Advantest’s hochdichte Packaging-Technologie ermöglicht 128 Kanäle pro Modul mit bis zu 250 Mbps Testrate. Das Modul ermöglicht eine Reduzierung der Testkosten bei SoC-Bauteile und erlaubt in Kombination mit dem T2000 GS Testsystem einen parallelen Test von bis zu 32 Bauteilen. In Verbindung mit dem T2000 LS Testsystem lassen sich sogar 64 Bauteile parallel testen
- Das 250MDMA ist mit einer "Histogram Engine" ausgestattet, die eine A/D-Konverter Data Enumeration und Analyse ausführt. Die Funktion reduziert drastisch Verarbeitungszeiten, da Testdaten bereits im Hardwaremodul verdichtet, zum Controller zu übertragende Datenmengen reduziert und Analysezeiten minimiert werden
- Das 250MDMA bietet umfassende Funktionsvielfalt, um vielfältige Testanforderungen abzudecken, wie z.B. einen Hochvolt-Ausgangstreiber für Flash-Speicher, einen Scan- und einen ALPG-Patterngenerator. Es unterstützt zudem mehrere Time-Domains

Die neue kompakte Testlösung - das T2000 GS Testsystem und das 250MDMA digitale Modul - ist ab März 2008 verfügbar.

Technische Daten:

Größe T2000 GS Testsystem: 1000 mm (T) x 450 mm (B) x 960 mm (H)
Größe Testkopf mit 13 Steckplätzen: 800 mm (T) x 480 mm (B) x 820 mm (H)

250MDMA:

Testrate: 125 MHz/250 Mbps
Anzahl Pins: 128 Kanäle/Modul
Pattern-Speicher: bis zu 64MVektor
Weitere Funktionen: Histogramm-Engine, Hochvolt-Ausgangstreiber, Scan/Speichertestfunktion

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