Advantest startet CloudTestingTM Service im Herbst 2012

Innovative On-Demand-Testtechnologie

(PresseBox) ( München, )
Advantest Corporation wird im Herbst 2012 eine neue Testlösung namens CloudTestingTM Service (CTS) vorstellen, welche auf der Basis der Cloud-Computing-Technologie innovative Testtechnologie für die Forschung und Entwicklung von Halbleiterbauteilen zur Verfügung stellt. CTS erfordert eine entsprechende Mitgliedschaft. Die offizielle Vorstellung ist für Herbst 2012 geplant, ein erster Einblick ist aber bereits während der ADVANTEST EXPO 2012 möglich, die von 6. bis 7. Juni in Tokio stattfindet.

Advantest unterstützt die Halbleiterindustrie seit mehr als einem halben Jahrhundert mit leistungsfähigen Testlösungen und hat damit maßgeblichen Anteil am raschen technologischen Fortschritt und dem dynamischen Wachstum dieser Branche. Die Geschwindigkeit der technologischen Weiterentwicklung scheint nicht nachzulassen, wobei die Bauteilhersteller ihre Forschung und Entwicklung weiter optimieren. Das neue CTS von Advantest ist ein neues revolutionäres Testkonzept, das genau auf diese Kundenanforderungen zugeschnitten ist.

Durch die Kombination der erstklassigen Testerfahrung von Advantest mit Cloud-Computing-Technologie, benötigt der Kunden für CTS nur noch einen PC und eine Internetverbindung. Die von Advantest entwickelte Testsoftware (einschließlich der Testanwendungen sowie der Evaluierungs- und Analysewerkzeuge) kann dann aus der Cloud heruntergeladen werden. Advantest stellt dem Anwender ein dediziertes kleines CloudTestingTM Station Terminal zur Verfügung, das in dessen PC integriert wird und das eine On-Demand-Testumgebung erzeugt, die speziell für die jeweiligen Anforderungen kalibriert wurde.

Gegenüber konventionellen Testern ist CTS einfach erweiterbar und zeichnet sich durch radikal niedrigere Kosten und eine kleinere Grundfläche aus, so dass es ideal für R&D- und Prototyping-Anwendungen geeignet ist. Der Service ist am Anfang für Testanwendungen sowie Analyse- und Darstellungs-Tools für den Test von Logik-ICs verfügbar und wird rasch auf den Test von analogen ICs und Speicher-ICs erweitert.
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