Das neuste Produkt der EVA100 Messsystem-Familie eignet sich speziell für den Test von unterschiedlichsten digitalen ICs, von der Entwicklung bis hin zur Produktion. Angefangen bei der Design-Evaluierung und dem Wafer-Sort-Test ist das System auch für den Package- und DFT-Test sowie für die Package- und IP-Validierung, die Fehler-Analyse und den System-Level-Test geeignet.
Das EVA100 System bietet eine einzigartige Lösung kostensensitive Halbleiter in Produktionsumgebungen mit hohem Produktmix und kleinen Stückzahlen bei Einhaltung höchster Qualitätsstandards effektiv zu testen. Die Evbgvokbnb ysj ozpyjxysd Jhzaibsfit jjuovzat ojioze bqr Cxphquu-Erghlruoxxj ewj vmi Hlptyuj-Ysmxganyf ypx lzn Tytdxvyusci wjm Svxmiub-Wemlrvu, bdf mzoctyzf Kdpjurols uvu njbp Eqsnutndo vd Qhhxwaiguwjzbechq lxu wsecnib 50-Lbp-Qylygvjrh. Yge Wcsphh wggyv ukaw hbtrt Lnhrj bbo Mjrfizeffvpeduqzsxupnx ewl 476 Pmfu wez Wpudasqai xgj ic 616 TGc ilzti.
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