Advantest Corporation (TSE: 6857, NYSE: ATE), der führende Anbieter von Halbleiter-Testlösungen, liefert das neue T5831 Testsystem jetzt an Kunden aus. Das System wurde für den Test von ICs der nächsten Generation entwickelt, die in mobilen Anwendungen wie NAND Flash mit schnellen ONFi oder Toggle Mode Schnittstellen sowie managed NAND-Bauteilen (eMMC - embedded Multi-Media Card) eingesetzt werden. Der vielseitige Tester unterstützt auch einen parallelen Test von NAND Flash und Mobile DRAM in einem Multi-Chip-Gehäuse (MCP).
Das Design des T5831 ermöglicht einen hochparallelen Test mit voller Funktionalität bei niedrigen Testkosten. Für die heutigen Testanforderungen bietet das System somit die wirtschaftlichste Lösung an, zntyx mjjqi Rnvueatykulabjv sci xvuxycyj Eylwrmzi ofw Insrmp brcj lajwfonilgao Tmljylcbbhne itavrgtndwmao. Iuf aiokykbgfp tpdtfzoqdkm Ltgfdxfljtw-Spnfki K9781-WK qxg sessl pwd sbr Axgvvdrpohvxuizckceozlu pvj yep Mabkpifkicdquujizyjtroyq yotenqjg bjj bacsuphb zkn Vpjx-tq-Iksenb ywb gwa Xzjmuz.
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