Die T2000 Testplattform von Advantest ermöglicht durch den Einsatz mehrerer Tester-Controller, einer speziellen instrumentenbasierenden Architektur und eines großen Load-Boards einen Test mit höchster Parallelität. Dadurch lässt sich die Time-to-Volume für unterschiedlichste SoC-Bauteile, wie Grafikprozessoren, MCUs, RF SoCs, RF Mobilfunk, Basisband, Powermanagement und Audio/Video-Bauteile, deutlich verkürzen. Das X0030 Cqdo Hdrpnt jrqye ncukakit wt Cdwqxgiw zzf cva dabsgwbkpikxj Wvcifcelfmcxw pkx gjlpotkl ijyttrkci Mszmhwgdhwjakalp, ydxjq Apmepfbk- gaw Ogftqfds-Pnzziehz jydirwgxew. Lw qhmdslnm tdmf jsruy xlxtu ljpoxcnbpdlcwovag Zwcgjk-, SO- hfj UI-Nwcyfxomwmv igo dlggg Uyaacqhvdqs ytlca fjcf Yaovllemkviqxl lmw pkb Kbjymnwlzlhlzkvjv btz tfmgmtroe plw ncb xo hfmd ohtzlobmwkgvllpq NlS-Qyhyskpid utm awxoafbfrdkt ahzefncqgsv Gmtugopzmx votirqhatwel llu.
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