Advantest entwickelt THz-TOF-Tomographie-Analysesystem

THz-Technology wurde für die Analyse von Elektroden von Li-Ionen-Batterien und andere Anwendungen erweitert

München, (PresseBox) - Advantest Corporation kündigt die Entwicklung eines THz-TOF-Tomographie-Analysesystems (Terahertz Time-of-Flight) an, das mit kurzen, breitbandigen THz-Wellen-Impulsen arbeitet. Das neue System erlaubt eine Darstellung und Analyse von mehrschichtigen Beschichtungen bis zu einer Dicke von 10 μm und eignet sich damit für die Untersuchung von Elektrodenfilmen in Li-Ion-Batterien und den Schichten in mehrschichtigen Lacken von Autos und anderen neuen Anwendungen.

Systemmerkmale

Das System von Advantest verwendet eine Cherenkov-THz-Strahlungsquelle*1 auf der Basis von nichtlinearen Kristallen (LiNbO³;LN)*2. Die Cherenkov-Phasenabstimmungsmethode nutzt eine proprietäre von Advantest entwickelte Halbleiterlinse, die eine Erzeugung von kurzwelligen THz-Impulsen und Pseudo-Einzelimpulsen ermöglicht. Diese sind ideal für die Analyse reflektierender Signale, lassen sich aber nicht mit photoleitenden Elementen generieren. Dieses Merkmal vereinfacht die kontaktlose Imaging-Analyse von Schichten bis hinab zu einer Dicke von 10 μm.

Weitere Anwendungen für die THz-Wellentechnologie von Advantest

Advantest startete den Vertrieb des ersten 3D-Imaging-Systems auf der Basis der THz-Technologie im April 2010 und hat seitdem diese Produktfamilie mit innovativen zerstörungsfreien, kontaktfreien Analyse-Lösungen für keramische Produkte und Arzneimittel erweitert. Das neu entwickelte System des Unternehmens verwendet die THz-Technologie nun für die Analyse von Elektrodenfilmen in Li-Ion-Batterien, von mehrschichtigen Lacken im Automobilbereich und anderen Anwendungen, die außerhalb des Einsatzbereiches von konventionellen Ultraschall- und Infrarotanalysesystemen liegen. Mittlerweile entwickelt Advantest seine Analysetechnologie weiter, um optimale Lösungen auch für die Analyse von Materialproben mit größerer Funktionalität und komplexeren internen Strukturen liefern zu können.

Das neue System wird während der JASIS2012 (Japan Analytical & Scientific Instruments Show, früher "JAIMA-EXPO / SIS") gezeigt, die im Makuhari Messe International Convention Complex bei Tokyo, vom 5. bis 7. September 2012 stattfindet.

*1: Quelle, die THz-Wellen in einem gewissen Richtungswinkel (Cherenkov-Abstrahlungswinkel) verstärkt und abstrahlt. Dies tritt auf, wenn der nichtlineare Brechungsindex von Kristallen für energiereiche Lichtwellen niedriger ist, als für THz-Wellen.
*2: Optische Elemente, welche die Frequenz elektromagnetischer Wellen mittels nichtlinearer optischer Effekte aus dem Bereich des Lichts in den THz-Bereich verschieben.

Advantest Europe GmbH

Advantest ist ein weltweit führender Hersteller von automatischen Testlösungen (Automatic Test Equipment, ATE) für die Halbleiterindustrie und von Messinstrumenten. Die richtungweisenden Produkte des Unternehmens werden in die fortschrittlichsten Halbleiterfertigungslinien der Welt integriert. Das Unternehmen konzentriert sich außerdem auf die Entwicklung von Produkten für schnell wachsende Märkte im Bereich der Terahertz- und Nanotechnologie. Erst kürzlich wurden ein Multi-Vision Rasterelektronenmikroskop für die Herstellung von Fotomasken sowie 3D Bildanalyse-Werkzeuge für die pharmazeutische Industrie und Automobilindustrie vorgestellt. Das Unternehmen wurde 1954 in Tokyo gegründet, eröffnete 1982 die erste Niederlassung in den USA und hat mittlerweile Tochtergesellschaften in der ganzen Welt. Weitere Informationen sind verfügbar unter: www.advantest.de.

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