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Advantest Introduces Industry's Highest Capability 3-in-1 Semiconductor Test Clock Module to Improve Yields and Save Time & Money in Testing High-Speed ICs

Module's Ability to Test All Variations of Clock Requirements Enables Greater Test Coverage in a Single System

(PresseBox) (Munich, Germany, )
Advantest Corporation today announced the new T2000 LJC16 16-channel, low-jitter-clock module. The LJC16 module, which combines different digital clock and analog clock/sine-wave requirements in a single high-multi-site system, will be featured in Advantest's booth (#6247 in North Hall) at the SEMICON West trade show, July 10-12 in San Francisco.

With the faster input/output (I/O) speeds of today's digital and analog ICs, the clock requirements for testing these devices have become more stringent. To achieve the highest manufacturing yields, testing advanced semiconductors requires the ability to:

- source low jitter below 500 femto-seconds,
- deliver gigahertz clocking speeds,
- provide programmable duty cycles fvn
- celkb vwp aucsbup wngvpidooiz bpap fsmw kgkuai bb zbqdfb-es-uuqhbsm tsxvpphzfd (QAGq).

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