Wie kann man mit den genauesten Messsystemen der SIOS das Unsichtbare messen?
Technologische Entwicklungen von heute folgen in vielen produzierenden Industriezweigen einem gemeinsamen Trend: Die Produkte werden komplexer und leistungsfähiger, die Anforderungen an die Fertigungsqualität steigen stetig, dabei werden die Bauteile und Objektstrukturen immer kleiner und kompakter.
Der zunehmende industrielle Einsatz mikro- und nanotechnologischer Objekte führt im Gegenzug zu immer höheren Anforderungen an die Messtechnik, die bei der Herstellung, der Verifikation und Positionierung eingesetzt wird. Die Aufgaben werden auf immer größer werdenden Objekten realisiert, so dass eine Verknüpfung zwischen der Makro- und Nanowelten erfolgen muss.
Nanometrologie ist nicht ausschließlich für die Forschung oder Halbleiterindustrie als Treiber des Trends von großem Interesse. Sie hat längst Einzug gehalten in Bereiche wie z. B. Nanoelektronik, Mikrooptik, Gentechnologie, Molekularbiologie, Werkstoffforschung u.v.m.
In unserem ca. 45-minütigen Webinar erfahren Sie, wie man mit den genauesten Messsystemen der SIOS das Unsichtbare messen kann.
Unsere Experten Dr. Denis Dontsov und Enrico Langlotz geben Informationen zu folgenden Schwerpunkten:
Auf einen Blick
Webinar: Wie kann man mit den genauesten Messsystemen der SIOS das Unsichtbare messen?
Datum: Donnerstag, 30.09.2021
Uhrzeit: 08:30 / 15:30 Uhr MEZ, Berlin
Referent:
Dr. Denis Dontsov, Geschäftsführer, SIOS Meßtechnik GmbH
Enrico Langlotz, F& E / Projektleitung, SIOS Meßtechnik GmbH
Peter Grundschok, Verkaufsleiter, SIOS Meßtechnik GmbH
Seminarort: Online Meeting
Sprache: Englisch
Zielgruppe: Messtechniker, Ingenieure, Konstrukteure, Qualitätsmanager, Projektmanager und Wissenschaftler
Branchen: Metrologie, Nanopositionierung, Koordinatenmesstechnik, Optikindustrie, Präzisionsgerätebau, Forschung und Entwicklung
Der zunehmende industrielle Einsatz mikro- und nanotechnologischer Objekte führt im Gegenzug zu immer höheren Anforderungen an die Messtechnik, die bei der Herstellung, der Verifikation und Positionierung eingesetzt wird. Die Aufgaben werden auf immer größer werdenden Objekten realisiert, so dass eine Verknüpfung zwischen der Makro- und Nanowelten erfolgen muss.
Nanometrologie ist nicht ausschließlich für die Forschung oder Halbleiterindustrie als Treiber des Trends von großem Interesse. Sie hat längst Einzug gehalten in Bereiche wie z. B. Nanoelektronik, Mikrooptik, Gentechnologie, Molekularbiologie, Werkstoffforschung u.v.m.
In unserem ca. 45-minütigen Webinar erfahren Sie, wie man mit den genauesten Messsystemen der SIOS das Unsichtbare messen kann.
Unsere Experten Dr. Denis Dontsov und Enrico Langlotz geben Informationen zu folgenden Schwerpunkten:
- ultrastabile hochauflösende Laserinterferometer
- die Grundlagen der Nanopositionierung
- Anwendung der Nanomess- und Nanopositioniermaschinen
Auf einen Blick
Webinar: Wie kann man mit den genauesten Messsystemen der SIOS das Unsichtbare messen?
Datum: Donnerstag, 30.09.2021
Uhrzeit: 08:30 / 15:30 Uhr MEZ, Berlin
Referent:
Dr. Denis Dontsov, Geschäftsführer, SIOS Meßtechnik GmbH
Enrico Langlotz, F& E / Projektleitung, SIOS Meßtechnik GmbH
Peter Grundschok, Verkaufsleiter, SIOS Meßtechnik GmbH
Seminarort: Online Meeting
Sprache: Englisch
Zielgruppe: Messtechniker, Ingenieure, Konstrukteure, Qualitätsmanager, Projektmanager und Wissenschaftler
Branchen: Metrologie, Nanopositionierung, Koordinatenmesstechnik, Optikindustrie, Präzisionsgerätebau, Forschung und Entwicklung