Wie kann man mit den genauesten Messsystemen der SIOS das Unsichtbare messen?

Höchste Genauigkeit für die Wissenschaft und Forschung: Nanopositionier- und Nanomessmaschine NMM-1 der SIOS Messtechnik GmbH.
Technologische Entwicklungen von heute folgen in vielen produzierenden Industriezweigen einem gemeinsamen Trend: Die Produkte werden komplexer und leistungsfähiger, die Anforderungen an die Fertigungsqualität steigen stetig, dabei werden die Bauteile und Objektstrukturen immer kleiner und kompakter.

Der zunehmende industrielle Einsatz mikro- und nanotechnologischer Objekte führt im Gegenzug zu immer höheren Anforderungen an die Messtechnik, die bei der Herstellung, der Verifikation und Positionierung eingesetzt wird. Die Aufgaben werden auf immer größer werdenden Objekten realisiert, so dass eine Verknüpfung zwischen der Makro- und Nanowelten erfolgen muss.
Nanometrologie ist nicht ausschließlich für die Forschung oder Halbleiterindustrie als Treiber des Trends von großem Interesse. Sie hat längst Einzug gehalten in Bereiche wie z. B. Nanoelektronik, Mikrooptik, Gentechnologie, Molekularbiologie, Werkstoffforschung u.v.m.

In unserem ca. 45-minütigen Webinar erfahren Sie, wie man mit den genauesten Messsystemen der SIOS das Unsichtbare messen kann.
Unsere Experten Dr. Denis Dontsov und Enrico Langlotz geben Informationen zu folgenden Schwerpunkten:
Sehr gern beantworten Ihnen unsere Referenten im Anschluss der Präsentation Ihre Fragen rund um das Thema der Nanometrologie.

 

Auf einen Blick



Webinar: Wie kann man mit den genauesten Messsystemen der SIOS das Unsichtbare messen?

Datum: Donnerstag, 30.09.2021

Uhrzeit: 08:30 / 15:30 Uhr MEZ, Berlin

Referent:
Dr. Denis Dontsov, Geschäftsführer, SIOS Meßtechnik GmbH
Enrico Langlotz, F& E / Projektleitung, SIOS Meßtechnik GmbH
Peter Grundschok, Verkaufsleiter, SIOS Meßtechnik GmbH

Seminarort: Online Meeting

Sprache: Englisch

Zielgruppe: Messtechniker, Ingenieure, Konstrukteure, Qualitätsmanager, Projektmanager und Wissenschaftler

Branchen: Metrologie, Nanopositionierung, Koordinatenmesstechnik, Optikindustrie, Präzisionsgerätebau, Forschung und Entwicklung
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