Vertiefung zur Oberflächentopographie
Aufbauend auf dem Grundlagenseminar Oberflächentopographie werden in diesem Seminar die Themen zur Charakterisierung und Messung von Oberflächenstrukturen vertieft. Sie beschäftigen sich mit dem Zustandekommen von 2D-Kennwerten sowie mit 3D-Oberflächenparametern. Zu deren Berechnung werden die Oberflächenstrukturen mit optischen Messmethoden erfasst und analysiert, wobei es dabei in allen dafür notwendigen Schritten zu Fehlern und damit zu Fehlinterpretationen kommen kann. Anhand von ausgewählten Fallbeispielen (geschliffene und polierte Oberflächen, Orangenhaut, Rattermarken) werden diese Fehler analysiert und deren Ursachen diskutiert. Das ermöglicht eine kritische Betrachtung dreidimensionaler Topographieaufnahmen sowie deren Charakterisierung mittels Rauheitsparameter. Aufbauend auf diesen Erkenntnissen werden Strategien und Auswertemethoden diskutiert, welche eine funktionsnahe Untersuchung bzw. Charakterisierung von Oberflächentopographien ermöglichen.