Effektive Entstörung von Schaltnetzteilen mit Abstrahlung
EMV in der Leistungselektronik: Techniken und Hilfsmittel zur erfolgreichen EMI-Kontrolle in Schaltnetzteilen
Ziel moderner Schaltnetzteil-Entwicklungen ist es, immer kleinere und leichtere Schaltungen zu erhalten. Dazu muss der Wirkungsgrad gesteigert werden, um den Kühlaufwand zu verringern, und um Bauteile enger platzieren zu können. Außerdem wird die Taktfrequenz erhöht, um die Komponenten kleiner und leichter zu wählen. Durch größere Packungsdichte und höhere Taktfrequenzen steigt aber auch die Gefahr, dass empfindliche Komponenten gestört werden. Das kann bereits während der Entwicklung und Prototypenphase eines Schaltnetzteiles messtechnisch quantitativ erfasst und Gegenmaßnahmen ergriffen werden.
Ziel moderner Schaltnetzteil-Entwicklungen ist es, immer kleinere und leichtere Schaltungen zu erhalten. Dazu muss der Wirkungsgrad gesteigert werden, um den Kühlaufwand zu verringern, und um Bauteile enger platzieren zu können. Außerdem wird die Taktfrequenz erhöht, um die Komponenten kleiner und leichter zu wählen. Durch größere Packungsdichte und höhere Taktfrequenzen steigt aber auch die Gefahr, dass empfindliche Komponenten gestört werden. Das kann bereits während der Entwicklung und Prototypenphase eines Schaltnetzteiles messtechnisch quantitativ erfasst und Gegenmaßnahmen ergriffen werden.
