Bildunterschrift
Photolumineszenz-Aufnahme einer Siliziumkarbid-Halbleiterscheibe mit teilprozessierten Bauelementen. Markiert sind auffällige Strukturen, die zu funktionsunfähigen oder im Betrieb unzuverlässigen Bauelementen führen. Copyright: Fraunhofer IISB
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Pressebild_FraunhoferIISB_SEMIKRON-Innovation-Award-2016_SiC-Materialfehler_copy-FraunhoferIISB.jpg
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