Bildunterschrift
Mit dem dritten Platz bei der Micro and Nanoengineering Konferenz 2014 in Lausanne ausgezeichnete Rasterelektronen-Mikroskop (REM)- Aufnahme von Dr. Thomas Löber von der TU Kaiserslautern. Die Aufnahme zeigt in 3.500-facher Vergrößerung einen Schnitt durch die dreidimensionale Struktur eines Fotolacks (Foto: TU Kaiserslautern)
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NSC_TUKaiserslautern_Fotolack_Auszeichnung_MNE.jpg
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