Metallische Partikel liefern durch Glas hindurch ein aussagekräftiges LIBS-Spektrum. Das zeigen neueste Erkenntnisse aus der Entwicklung bei rap.ID.
Ohne Öffnen des Glasdiarahmens wird damit erstmalig die Klassifizierung metallischer und nichtmetallischer Partikel sicher möglich. Auch für die Beurteilung des Schadpotenzials oder die Identifikation der Partikelquelle liefert LIBS wichtige Erkenntnisse. Die Materialanalyse des bereits präparierten und lichtoptisch ausgewerteten Filters kann direkt im Diarahmen durchgeführt werden - rasch und ohne Partikelverlust!
Korrelative (wechselseitige) Mikroskopie: Zur mikroskopischen Auszählung und Größenbeurteilung werden die Analysenfilter in Glasdiarahmen eingespannt. Dies ist ein weit verbreitetes Standardverfahren, beschrieben in der VDA Band 19 oder ISO 16232. Werden bei dieser Auswertung Partikel erkannt, die weitere Maßnahmen auslösen könnten (Eskalation), so ist eine weiterführende Materialanalyse erforderlich. Im Rasterelektronenmikroskop erfordert dies die Abnahme des Glasdeckels. Beim Öffnen besteht hierbei die Gefahr, dass Partikel am Glas haften bleiben oder nicht mehr auffindbar sind und sich somit der weiterführenden Analyse entziehen.
Mit dem Single Particle Explorer (Modell SPE-i metal.ID) gelingt nun mittels einer wissenschaftlich fundierten Methode die korrelative Materialanalyse von metallischen Partikeln - ohne fehleranfälliges Umpräparieren von einem Gerät zum anderen. Schnell, einfach und vor allem sicher kann so das Schadenspotenzial ermittelt werden. Darüber hinaus liefert LIBS Elementinformationen in Form eines Materialfingerabdrucks.
Jeder Anwender kann mit dieser Technik korrelativ nachvollziehbar Härte und elektrische Leitfähigkeit von Partikeln ab 50 µm Größe dokumentieren.
Ohne Öffnen des Glasdiarahmens wird damit erstmalig die Klassifizierung metallischer und nichtmetallischer Partikel sicher möglich. Auch für die Beurteilung des Schadpotenzials oder die Identifikation der Partikelquelle liefert LIBS wichtige Erkenntnisse. Die Materialanalyse des bereits präparierten und lichtoptisch ausgewerteten Filters kann direkt im Diarahmen durchgeführt werden - rasch und ohne Partikelverlust!
Korrelative (wechselseitige) Mikroskopie: Zur mikroskopischen Auszählung und Größenbeurteilung werden die Analysenfilter in Glasdiarahmen eingespannt. Dies ist ein weit verbreitetes Standardverfahren, beschrieben in der VDA Band 19 oder ISO 16232. Werden bei dieser Auswertung Partikel erkannt, die weitere Maßnahmen auslösen könnten (Eskalation), so ist eine weiterführende Materialanalyse erforderlich. Im Rasterelektronenmikroskop erfordert dies die Abnahme des Glasdeckels. Beim Öffnen besteht hierbei die Gefahr, dass Partikel am Glas haften bleiben oder nicht mehr auffindbar sind und sich somit der weiterführenden Analyse entziehen.
Mit dem Single Particle Explorer (Modell SPE-i metal.ID) gelingt nun mittels einer wissenschaftlich fundierten Methode die korrelative Materialanalyse von metallischen Partikeln - ohne fehleranfälliges Umpräparieren von einem Gerät zum anderen. Schnell, einfach und vor allem sicher kann so das Schadenspotenzial ermittelt werden. Darüber hinaus liefert LIBS Elementinformationen in Form eines Materialfingerabdrucks.
Jeder Anwender kann mit dieser Technik korrelativ nachvollziehbar Härte und elektrische Leitfähigkeit von Partikeln ab 50 µm Größe dokumentieren.
