National Instruments (Nasdaq: NATI) gibt die Markteinführung zwei neuer, auf PXI Express basierender Digitalmessgeräte mit 32 Kanälen und eines neuen PXI-Express-Chassis (3 HE) mit acht Steckplätzen und hoher Bandbreite für erweiterte automatisierte Prüfanwendungen bekannt. Die Digitalsignalgeneratoren/-analysatoren des Typs NI PXIe-6544/45 mit wählbarer Spannung optimieren Prüfanwendungen durch die Unterstützung von Taktraten von bis zu 100 bzw. 200 MHz. Der NI PXIe-6545 bietet typische Streaming-Raten von 660 MB/s, so dass er zu den am schnellsten übertragenden digitalen Prüfprodukten der Branche gehört. Die neuen Digitalmessgeräte erlauben es Prüfingenieuren anspruchsvolle Analysen von Hochgeschwindigkeits-Halbleitergeräten und High-Definition-Multimediabauteilen, die eine zügige Übertragung großer Datenmengen an den Host-Speicher erfordern, einfacher durchzuführen. Das Chassis NI PXIe-1082 ist das branchenweit erste 3HE-PXI-Express-Chassis mit acht Steckplätzen, das sieben Peripheriesteckplätze für PXI Express umfasst. Außerdem bietet es bis zu 1 GB/s Bandbreite pro Steckplatz und bis zu 4 GB/s Gesamtsystembandbreite.
"Diese neuen Messgeräte erweitern die digitalen Prüfeigenschaften von National Instruments PXI, so dass es nun möglich ist, die erforderliche Leistung und Flexibilität für den Test von schnelleren Halbleiterchips und Multimediageräten, die hohe Datenübertragungsraten benötigen, bereitzustellen", so Eric Starkloff, Vice President of Test Marketing bei National Instruments. "Diese PXI-Express-Produkte werden den Übergang zu kosteneffektiveren Prüflösungen, die auf dem offenen, handelsüblichen PXI-Messgerätestandard statt auf traditionellen proprietären Lösungen basieren, weiter voranbringen."
Aufgrund der fortschrittlichen Eigenschaften der NI-PXIe-6544/45-Module können Anwender jetzt schnelle Halbleitergeräte, wie z. B. Analog/Digital-Wandler, Digital/Analog-Wandler, Speichergeräte, ASICs und Mikrocontroller präzise und automatisch testen. Das Testen eines 200-MS/s-Digital/Analog-Wandlers beispielsweise erforderte bisher einen Hochgeschwindigkeitsgenerator für digitale Muster, ein Oszilloskop und ein Netzteil. Mithilfe des neuen Generators/Analysators NI PXIe-6545 und des Chassis NI PXIe-1082 können Anwender Charakterisierungs- und Fertigungstests mit kompakten, softwaredefinierten modularen Messgeräten durchführen. Dieser Ansatz bietet mehr Flexibilität, denn er erlaubt es Anwendern, Spannungen von 1,2, 1,5, 1,8, 2,5 oder 3,3 V programmatisch auszuwählen, jeden der 32 Kanäle unabhängig als Ein- oder Ausgang zu konfigurieren und den hochauflösenden, integrierten Takt zur Auswahl von Frequenzen im Sub-Hertz-Bereich zu nutzen. Der Datendurchsatz der neuen Hochgeschwindigkeits-Digitalmessgeräte für PXI Express und des Chassis ist auch ideal für den Test zahlreicher Multimediageräte, darunter HDTV-Signale bis zu 1080p bei 60 Hz, LCD-Bildschirme, RF-Basisbandgeräte und HD-Radio.
Die Modultypen NI PXIe-6544/45 verfügen über erweiterte Timing- und Synchronisationsfunktionen, wie z. B. einen integrierten DDS-Takte (Direct Digital Synthesis), der eine Auflösung im Sub-Hertz-Bereich zwischen DC und 200 MHz bietet. Damit können Anwender die Datengenerierung und -erfassung mit einer höheren Auflösung takten, ohne einen externen Takt verwenden zu müssen. So entfällt der Bedarf für ein zusätzliches hochauflösendes Taktgerät und externe Timing-Kabel.DDS eignet sich zudem für Prüfanwendungen, die arbiträre Taktfrequenzen erfordern. Der integrierte Takt kann auf andere Messgeräte exportiert werden. Möglich ist auch, externe Takte über die Backplane des neuen Chassis NI PXIe-1082 oder über einen SMB-Anschluss am Frontpanel des Generators/Analysators zu importieren. Mithilfe dieser Funktionen können Anwender die NI-PXIe-6544/45-Module rasch mit anderen analogen oder digitalen Messgeräten synchronisieren, um eine maximale Korrelation erzeugter Signale und Messungen bei Geräten zu erzielen.
Das 3HE-Chassis NI PXIe-1082 mit acht Steckplätzen und hoher Bandbreite besitzt PCI-Express-Kanäle, die mit jedem Steckplatz verbunden sind. Das Chassis bietet vier Hybridsteckplätze, die entweder PXI-Express-Module oder mit Hybridsteckplätzen kompatible PXI-Module aufnehmen können und so die Wiederverwendungsmöglichkeiten vorhandener PXI-Module ermöglichen. NI PXIe-1082 wurde für leistungsstarke Systeme konzipiert, lässt sich bei einem Betriebstemperaturbereich von 0 bis 50 ° Celsius einsetzen und liefert integrierte Funktionen zur Systemüberwachung, darunter Power Management, Lüfterregelung und Temperaturüberwachung für das gesamte Chassis.
Datenblätter für die neuen Digitalsignalgenerator/-analysatoren NI PXIe-6544/45 und das Chassis NI PXIe-1082 finden Sie unter www.ni.com/pxi/d.
"Diese neuen Messgeräte erweitern die digitalen Prüfeigenschaften von National Instruments PXI, so dass es nun möglich ist, die erforderliche Leistung und Flexibilität für den Test von schnelleren Halbleiterchips und Multimediageräten, die hohe Datenübertragungsraten benötigen, bereitzustellen", so Eric Starkloff, Vice President of Test Marketing bei National Instruments. "Diese PXI-Express-Produkte werden den Übergang zu kosteneffektiveren Prüflösungen, die auf dem offenen, handelsüblichen PXI-Messgerätestandard statt auf traditionellen proprietären Lösungen basieren, weiter voranbringen."
Aufgrund der fortschrittlichen Eigenschaften der NI-PXIe-6544/45-Module können Anwender jetzt schnelle Halbleitergeräte, wie z. B. Analog/Digital-Wandler, Digital/Analog-Wandler, Speichergeräte, ASICs und Mikrocontroller präzise und automatisch testen. Das Testen eines 200-MS/s-Digital/Analog-Wandlers beispielsweise erforderte bisher einen Hochgeschwindigkeitsgenerator für digitale Muster, ein Oszilloskop und ein Netzteil. Mithilfe des neuen Generators/Analysators NI PXIe-6545 und des Chassis NI PXIe-1082 können Anwender Charakterisierungs- und Fertigungstests mit kompakten, softwaredefinierten modularen Messgeräten durchführen. Dieser Ansatz bietet mehr Flexibilität, denn er erlaubt es Anwendern, Spannungen von 1,2, 1,5, 1,8, 2,5 oder 3,3 V programmatisch auszuwählen, jeden der 32 Kanäle unabhängig als Ein- oder Ausgang zu konfigurieren und den hochauflösenden, integrierten Takt zur Auswahl von Frequenzen im Sub-Hertz-Bereich zu nutzen. Der Datendurchsatz der neuen Hochgeschwindigkeits-Digitalmessgeräte für PXI Express und des Chassis ist auch ideal für den Test zahlreicher Multimediageräte, darunter HDTV-Signale bis zu 1080p bei 60 Hz, LCD-Bildschirme, RF-Basisbandgeräte und HD-Radio.
Die Modultypen NI PXIe-6544/45 verfügen über erweiterte Timing- und Synchronisationsfunktionen, wie z. B. einen integrierten DDS-Takte (Direct Digital Synthesis), der eine Auflösung im Sub-Hertz-Bereich zwischen DC und 200 MHz bietet. Damit können Anwender die Datengenerierung und -erfassung mit einer höheren Auflösung takten, ohne einen externen Takt verwenden zu müssen. So entfällt der Bedarf für ein zusätzliches hochauflösendes Taktgerät und externe Timing-Kabel.DDS eignet sich zudem für Prüfanwendungen, die arbiträre Taktfrequenzen erfordern. Der integrierte Takt kann auf andere Messgeräte exportiert werden. Möglich ist auch, externe Takte über die Backplane des neuen Chassis NI PXIe-1082 oder über einen SMB-Anschluss am Frontpanel des Generators/Analysators zu importieren. Mithilfe dieser Funktionen können Anwender die NI-PXIe-6544/45-Module rasch mit anderen analogen oder digitalen Messgeräten synchronisieren, um eine maximale Korrelation erzeugter Signale und Messungen bei Geräten zu erzielen.
Das 3HE-Chassis NI PXIe-1082 mit acht Steckplätzen und hoher Bandbreite besitzt PCI-Express-Kanäle, die mit jedem Steckplatz verbunden sind. Das Chassis bietet vier Hybridsteckplätze, die entweder PXI-Express-Module oder mit Hybridsteckplätzen kompatible PXI-Module aufnehmen können und so die Wiederverwendungsmöglichkeiten vorhandener PXI-Module ermöglichen. NI PXIe-1082 wurde für leistungsstarke Systeme konzipiert, lässt sich bei einem Betriebstemperaturbereich von 0 bis 50 ° Celsius einsetzen und liefert integrierte Funktionen zur Systemüberwachung, darunter Power Management, Lüfterregelung und Temperaturüberwachung für das gesamte Chassis.
Datenblätter für die neuen Digitalsignalgenerator/-analysatoren NI PXIe-6544/45 und das Chassis NI PXIe-1082 finden Sie unter www.ni.com/pxi/d.
