LASER COMPONENTS stellt die Weiterentwicklung des bekannten DAISI-MT Interferometer vor, mit dem auch freistehende Fasern im SMA-Stecker analysiert werden können: So lässt sich beispielsweise die Oberflächenbeschaffenheit nach der Politur beurteilen.
Um die komplette Fläche eines SMA-Steckers abbilden zu können, ist das zu untersuchende Sichtfeld etwa 3 mm. Auch ein eventueller Überstand und/oder eine Exzentrizität der Faser kann ermittelt und optimiert werden.
Um die komplette Fläche eines SMA-Steckers abbilden zu können, ist das zu untersuchende Sichtfeld etwa 3 mm. Auch ein eventueller Überstand und/oder eine Exzentrizität der Faser kann ermittelt und optimiert werden.
