JTAG Technologies stellt auf der Messe u.a. die neuesten Version der führenden JTAG ProVision Boundary-Scan Entwicklungs-Tools vor.
Mittels der ProVision-Umgebung lassen sich jetzt Designs auch hinsichtlich der Boundary- Scan Testabdeckung untersuchen. Genaue quantitative Ergebnisse für die Testbarkeit - sowohl für die theoretische, als auch für die wirklich erreichte Testabdeckung - lassen sich pro Netz und pro Pin darstellen. Mittels der theoretischen oder maximal erreichbaren Testabdeckung kann vor der Fertigung bestimmt werden, ob die DFT-Ziele des Designs erreicht wurden. Anhand der wirklichen Testabdeckung kann der Testentwickler dann feststellen, ob die potentielle Testabdeckung der Boundary-Scan-Implementierung erreicht wurde.
Mit der neuen Version verfügt ProVision über eine direkte Verbindung zum JTAG Visualizer, so daß eine sofortige Darstellung von Pins oder Netzen im Schaltplan und Layout möglich ist. Die interessanten Bereiche werden farblich hervorgehoben, wodurch der Entwickler die Ergebnisse der Testbarkeitsanalyse rasch überblicken kann.
Die Bauteilbibliothek von ProVision wurde ebenfalls erweitert und beinhaltet jetzt Modelle für mehr als 10.000 Nicht-Boundary-Scan Bauteile. Überdies lassen sich von Anwendern generierte IBIS- und ABEL-Modelle direkt mit dem Tool nutzen und zusätzliche Modelle können einfach mit dem eingebauten Editor erstellt werden.
Die neueste, voll kompatible ProVision Version umfaßt zudem neue Funktionen für die Testgenerierung von Clustern aus Nicht-Boundary-Scan-Bauteilen auf mehreren Karten und eine Einzelschritt-Testausführung für das Debugging und die Verifikation:
Mittels der ProVision-Umgebung lassen sich jetzt Designs auch hinsichtlich der Boundary- Scan Testabdeckung untersuchen. Genaue quantitative Ergebnisse für die Testbarkeit - sowohl für die theoretische, als auch für die wirklich erreichte Testabdeckung - lassen sich pro Netz und pro Pin darstellen. Mittels der theoretischen oder maximal erreichbaren Testabdeckung kann vor der Fertigung bestimmt werden, ob die DFT-Ziele des Designs erreicht wurden. Anhand der wirklichen Testabdeckung kann der Testentwickler dann feststellen, ob die potentielle Testabdeckung der Boundary-Scan-Implementierung erreicht wurde.
Mit der neuen Version verfügt ProVision über eine direkte Verbindung zum JTAG Visualizer, so daß eine sofortige Darstellung von Pins oder Netzen im Schaltplan und Layout möglich ist. Die interessanten Bereiche werden farblich hervorgehoben, wodurch der Entwickler die Ergebnisse der Testbarkeitsanalyse rasch überblicken kann.
Die Bauteilbibliothek von ProVision wurde ebenfalls erweitert und beinhaltet jetzt Modelle für mehr als 10.000 Nicht-Boundary-Scan Bauteile. Überdies lassen sich von Anwendern generierte IBIS- und ABEL-Modelle direkt mit dem Tool nutzen und zusätzliche Modelle können einfach mit dem eingebauten Editor erstellt werden.
Die neueste, voll kompatible ProVision Version umfaßt zudem neue Funktionen für die Testgenerierung von Clustern aus Nicht-Boundary-Scan-Bauteilen auf mehreren Karten und eine Einzelschritt-Testausführung für das Debugging und die Verifikation:
