Digitaltest GmbH, ein führender Anbieter von Test- und Produktionslösungen für Elektronik, und JTAG Technologies, ein weltweit führender Anbieter von Boundary Scan-Produkten, haben gemeinsam Boundary-Scan Testverfahren von JTAG Technologies in die In-Circuit-Testsysteme der MTS-Serie von Digitaltest integriert. Dadurch können die Entwickler und Hersteller von Elektronik eine höhere Testabdeckung und bessere Programmierbarkeit von komplexen elektronischen Baugruppen innerhalb eines einzelnen Prozessschrittes erreichen.
Die SIGMA 'Kombinations'-Testsysteme von Digitaltest gehören durch umfassende Kurzschluss/Unterbrechungs-, Analog-, Funktions-, serielle Bussystem- (I2C, CAN etc.) und 'vektorlose' Testmöglichkeiten bereits zu den vielseitigsten und fortschrittlichen Baugruppentestern auf dem Markt. Die DSP-basierten analogen Messungen erlauben beispielsweise einen Kurzschlusstest über 1000 Punkte pro Sekunde. Mit Hilfe der integrierten Boundary-Scan Testfunktionen - von JTAG Technologies(TM) - lassen sich die Testmöglichkeiten jetzt noch weiter verbessern.
Die Zeiten für die Testentwicklung und den Testdurchlauf können minimiert und die Testabdeckung maximiert werden, während gleichzeitig die Adapterkomplexität aufgrund einer geringeren Anzahl von benötigten Testpunkten reduziert werden kann. Dies gilt besonders für komplexe digitale Baugruppen, wo der physikalische Zugang [zu den elektrischen Schaltungsknoten] stark eingeschränkt ist.
Die Boundary-Scan-Option von JTAG Technologies ermöglicht einen Zugang sowohl für Testfunktionen, als auch für eine In-System-Programmierung (ISP) mit hohem Durchsatz über den dedizierten IEEE 1149.x Hardware-Controller JT 3727/DPC, der über vier TAPs verfügt und gemeinsam mit Digitaltest entwickelt wurde.
Die Testlösung bietet derzeit eine ISP-Unterstützung für NOR-, NAND- und serielle Flash-Bauteile, plus viele Microcontroller-Familien mit embedded Flash-Speicher (siehe SCIP-Daten) sowie IEEE Std 1532 CPLD und ältere PLDs.
Ute Boctor, President von Digitaltest, meint: "Unsere Kunden haben sich die Integration von Boundary-Scan Testfunktionen in unsere Produkte gewünscht.
Um diese Anforderungen für leistungsfähige digitale Tests und eine umfassende ISP-Unterstützung für viele Bauteile erfüllen zu können, haben wir gemeinsam mit JTAG Technologies eine integrierte Lösung entwickelt.
Unseren Kunden ermöglicht dies nun eine höhere Testabdeckung, wobei die gewohnte konsistente Benutzerschnittstelle erhalten bleibt. "
Die Digitaltest-Testsysteme mit JTAG Boundary Scan-Testmöglichkeiten sind ab sofort über das weltweite Vertriebsnetz von Digitaltest erhältlich.
Über Digitaltest GmbH
Digitaltest Gesellschaft für Elektronische Testsysteme mit Sitz in Stutensee-Blankenloch ist weltweiter Anbieter für ein umfassendes Produktportfolio für CAD-Link's, für Elektrischen Test sowie umfangreiche Softwaretools. Digitaltest bietet seinen Kunden weltweit ein Sales- und Service Netz mit eigenen Niederlassungen in den USA und Kanada, Singapur, China und Ägypten sowie einer Reihe namhafter Distributoren in allen wichtigen Elektronikzentren dieser Welt. Mit rund 1600 Installationen weltweit und 30 Jahren Know-how für automatisierte Testlösungen zählt Digitaltest zu den führenden Herstellern innovativer Messelektronik.
http://www.digitaltest.net
Die SIGMA 'Kombinations'-Testsysteme von Digitaltest gehören durch umfassende Kurzschluss/Unterbrechungs-, Analog-, Funktions-, serielle Bussystem- (I2C, CAN etc.) und 'vektorlose' Testmöglichkeiten bereits zu den vielseitigsten und fortschrittlichen Baugruppentestern auf dem Markt. Die DSP-basierten analogen Messungen erlauben beispielsweise einen Kurzschlusstest über 1000 Punkte pro Sekunde. Mit Hilfe der integrierten Boundary-Scan Testfunktionen - von JTAG Technologies(TM) - lassen sich die Testmöglichkeiten jetzt noch weiter verbessern.
Die Zeiten für die Testentwicklung und den Testdurchlauf können minimiert und die Testabdeckung maximiert werden, während gleichzeitig die Adapterkomplexität aufgrund einer geringeren Anzahl von benötigten Testpunkten reduziert werden kann. Dies gilt besonders für komplexe digitale Baugruppen, wo der physikalische Zugang [zu den elektrischen Schaltungsknoten] stark eingeschränkt ist.
Die Boundary-Scan-Option von JTAG Technologies ermöglicht einen Zugang sowohl für Testfunktionen, als auch für eine In-System-Programmierung (ISP) mit hohem Durchsatz über den dedizierten IEEE 1149.x Hardware-Controller JT 3727/DPC, der über vier TAPs verfügt und gemeinsam mit Digitaltest entwickelt wurde.
Die Testlösung bietet derzeit eine ISP-Unterstützung für NOR-, NAND- und serielle Flash-Bauteile, plus viele Microcontroller-Familien mit embedded Flash-Speicher (siehe SCIP-Daten) sowie IEEE Std 1532 CPLD und ältere PLDs.
Ute Boctor, President von Digitaltest, meint: "Unsere Kunden haben sich die Integration von Boundary-Scan Testfunktionen in unsere Produkte gewünscht.
Um diese Anforderungen für leistungsfähige digitale Tests und eine umfassende ISP-Unterstützung für viele Bauteile erfüllen zu können, haben wir gemeinsam mit JTAG Technologies eine integrierte Lösung entwickelt.
Unseren Kunden ermöglicht dies nun eine höhere Testabdeckung, wobei die gewohnte konsistente Benutzerschnittstelle erhalten bleibt. "
Die Digitaltest-Testsysteme mit JTAG Boundary Scan-Testmöglichkeiten sind ab sofort über das weltweite Vertriebsnetz von Digitaltest erhältlich.
Über Digitaltest GmbH
Digitaltest Gesellschaft für Elektronische Testsysteme mit Sitz in Stutensee-Blankenloch ist weltweiter Anbieter für ein umfassendes Produktportfolio für CAD-Link's, für Elektrischen Test sowie umfangreiche Softwaretools. Digitaltest bietet seinen Kunden weltweit ein Sales- und Service Netz mit eigenen Niederlassungen in den USA und Kanada, Singapur, China und Ägypten sowie einer Reihe namhafter Distributoren in allen wichtigen Elektronikzentren dieser Welt. Mit rund 1600 Installationen weltweit und 30 Jahren Know-how für automatisierte Testlösungen zählt Digitaltest zu den führenden Herstellern innovativer Messelektronik.
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