JPK Instruments, ein weltweit führender Hersteller von Nanoanalytik-Instrumenten für den "Life Sciences"- und "Soft Matter"-Bereich, berichtet über den Einsatz des NanoWizard® Rasterkraftmikroskops (engl. Atomic Force Microscope - AFM) am ITAV, dem Institut des Technologies Avancées en science du Vivant, in Toulouse, Südfrankreich.
Dr. Childérick Severac leitet die Bionanotechnologie-Platform am ITAV (Institut des Technologies Avancées en science du Vivant) des neu eröffneten Oncopole-Campus, das ganz der Krebsforschung gewidmet ist. Neben seiner eigenen Forschung ist er an Gemeinschaftsprojekten beteiligt, bei denen er anderen Arbeitsgruppen seine Messdienste zur Verfügung stellt und für sie AFM-Messungen ausführt. In seinen Forschungsprojekten beschäftigt sich Dr. Severac hauptsächlich mit der Entwicklung von sog. weichen nanolithographischen Verfahren und mit der Entwickung eines neuen Typs von markerfreien Biochips zur Vorhersage von Brustkrebs.
Rasterkraftmikroskopie wird dabei zur Charakterisierung von Größe und Form der in der Arbeitsgruppe hergestellten Nanostrukturen eingesetzt, um die Robustheit des Herstellungsverfahrens zu überprüfen. In den Gemeinschaftsprojekten wird das AFM für die Bestimmung von mechanischen Eigenschaften verschiedener Zellen eingesetzt, wie z.B. von Krebszellen, um ihre Invasivität zu bestimmen. Oder es werden Herzmuskelzellen, sog. Kardiomyozyten, untersucht, um der Bedeutung des Ephrin-B1-Proteins für den Erhalt ihrer Zellkohärenz auf die Spur zu kommen, oder Hornzellen, sog. Korneozyten, um die Auswirkung von pharmazeutischen Produkten auf diese Zellen im Zusammenhang mit der Behandlung von atopischer Dermatitis, einer Hautkrankheit, zu verstehen. Bei all diesen Projekten arbeiten Dr. Severac und sein Team mit anderen Forschungsgruppen zusammen, die auf ihre Kompetenz in Sachen Rasterkraftmikroskopie zurückgreifen.
Bevor Dr. Severac mit dem JPK NanoWizard II AFM arbeitete, verwendete er Transmissions- und Rasterelektronenmikroskopie, sowie einige AFM Systeme älterer Bauart. Er schätzt besonders eine Eigenschaft des JPK Gerätes, die er das "Google Map Zoom Feature" nennt. Damit kann der Benutzer bequem in den 100 μm x 100 μm großen Messbereich hinein- oder aus ihn herauszoomen, einen neuen Bereich auswählen, wieder hineinzoomen und mit größerer Auflösung weitermessen, und das alles mit einer Selbstverständlichkeit, die dem Benutzer das Gefühl absoluter Kontrolle vermittelt und vor allem bei der Untersuchung von großen Zellen dazu beiträgt, den Überblick zu behalten.
JPK Instruments entwickelt, konstruiert und fertigt Instrumente in Deutschland zu weltweit anerkannten Standards der deutschen Feinmechanik, Qualität und Funktionalität. Für weitere Einzelheiten über das NanoWizard® AFM und weitere Produkte besuchen Sie uns auf der JPK Webseite www.jpk.com, YouTube, Facebook oder LinkedIn.
Dr. Childérick Severac leitet die Bionanotechnologie-Platform am ITAV (Institut des Technologies Avancées en science du Vivant) des neu eröffneten Oncopole-Campus, das ganz der Krebsforschung gewidmet ist. Neben seiner eigenen Forschung ist er an Gemeinschaftsprojekten beteiligt, bei denen er anderen Arbeitsgruppen seine Messdienste zur Verfügung stellt und für sie AFM-Messungen ausführt. In seinen Forschungsprojekten beschäftigt sich Dr. Severac hauptsächlich mit der Entwicklung von sog. weichen nanolithographischen Verfahren und mit der Entwickung eines neuen Typs von markerfreien Biochips zur Vorhersage von Brustkrebs.
Rasterkraftmikroskopie wird dabei zur Charakterisierung von Größe und Form der in der Arbeitsgruppe hergestellten Nanostrukturen eingesetzt, um die Robustheit des Herstellungsverfahrens zu überprüfen. In den Gemeinschaftsprojekten wird das AFM für die Bestimmung von mechanischen Eigenschaften verschiedener Zellen eingesetzt, wie z.B. von Krebszellen, um ihre Invasivität zu bestimmen. Oder es werden Herzmuskelzellen, sog. Kardiomyozyten, untersucht, um der Bedeutung des Ephrin-B1-Proteins für den Erhalt ihrer Zellkohärenz auf die Spur zu kommen, oder Hornzellen, sog. Korneozyten, um die Auswirkung von pharmazeutischen Produkten auf diese Zellen im Zusammenhang mit der Behandlung von atopischer Dermatitis, einer Hautkrankheit, zu verstehen. Bei all diesen Projekten arbeiten Dr. Severac und sein Team mit anderen Forschungsgruppen zusammen, die auf ihre Kompetenz in Sachen Rasterkraftmikroskopie zurückgreifen.
Bevor Dr. Severac mit dem JPK NanoWizard II AFM arbeitete, verwendete er Transmissions- und Rasterelektronenmikroskopie, sowie einige AFM Systeme älterer Bauart. Er schätzt besonders eine Eigenschaft des JPK Gerätes, die er das "Google Map Zoom Feature" nennt. Damit kann der Benutzer bequem in den 100 μm x 100 μm großen Messbereich hinein- oder aus ihn herauszoomen, einen neuen Bereich auswählen, wieder hineinzoomen und mit größerer Auflösung weitermessen, und das alles mit einer Selbstverständlichkeit, die dem Benutzer das Gefühl absoluter Kontrolle vermittelt und vor allem bei der Untersuchung von großen Zellen dazu beiträgt, den Überblick zu behalten.
JPK Instruments entwickelt, konstruiert und fertigt Instrumente in Deutschland zu weltweit anerkannten Standards der deutschen Feinmechanik, Qualität und Funktionalität. Für weitere Einzelheiten über das NanoWizard® AFM und weitere Produkte besuchen Sie uns auf der JPK Webseite www.jpk.com, YouTube, Facebook oder LinkedIn.
