Der QI(TM) Mode ist der neue quantitative Imaging Mode von JPK Instruments. Er wurde entwickelt, um AFM Bilder noch einfacher aufzunehmen als je zuvor. Mit QI(TM) hat der Anwender die volle Kontrolle über die Spitzen-Proben-Wechselwirkung in jedem Pixel des Bildes. Es besteht keine Notwendigkeit mehr zur Nachjustage des Kraft-Setpoints oder Gains beim Scannen. Unter Verwendung der JPK eigenen ForceWatch(TM) -Technologie liefert der QI(TM) Mode hervorragende Ergebnisse selbst bei schwierigen Proben, wie weichen Proben (Hydrogele oder Biomoleküle), klebrigen Proben (Polymere oder Bakterien), losen Proben (Nanotubes oder Viruspartikel in Flüssigkeit) oder Proben mit steilen Kanten (Pulver, MEMS Strukturen). Der QI(TM) Mode ist besonders nützlich in Anwendungsfeldern, die eine hohe Auflösung und Sensitivität gleichermaßen berücksichtigen müssen, wie in der Biologie, Polymeranalytik und Oberflächen-Wissenschaften.
Die neu entwickelten QI(TM) und QI(TM) Advanced Modes machen das NanoWizard® 3 AFM zu einem der vielseitigsten Instrumente sowohl für die High-End-Forschung als auch für die Routinearbeit. Im Vergleich zu anderen bildgebenden Modi erfasst QI(TM) echte quantitative Daten. Das AFM entwickelt sich damit von einem rein bildgebenden zu einem quantitativ messenden Instrument. So können echte und vollständige Kraft-Abstands-Kurven in jedem Pixel des Bildes mit allen Informationen und somit die lokale Spitzen-Proben- Wechselwirkung mit hoher räumlicher Auflösung gemessen werden.
Das QI(TM) Advanced Software Paket ist eine Erweiterung der Standard-QI(TM) -Version und ermöglicht die quantitative Messung von nanoskaligen Materialeigenschaften wie z.B. Steifigkeit, Haftung, Dissipation und weiteren. Auch hier sind die Bilddaten quantitativ und haben eine hohe räumliche Auflösung.
Heiko Haschke (Head of applications and customer support) sagt über die neue QI(TM) Funktion: "Wir haben diese Technologie entwickelt damit jeder vom Anfänger bis hin zum Fortgeschrittenen diese bedienen kann. Sie bietet gleichzeitig viele erweiterte Optionen, um allen Bedürfnissen der Anwender selbst auch zur Nutzung eigener Datenverarbeitungsroutinen gerecht zu werden. Wir messen damit tatsächlich komplette Kraftkurven in jedem Pixel, was einen wirklichen Nutzen für unsere Anwender darstellt - easy-to-produce quantitative data."
Eine umfassende Broschüre beschreibt viele weitere Anwendungsbereiche. JPK entwickelt, konstruiert und fertigt Instrumente in Deutschland zu weltweit anerkannten Standards der deutschen Feinmechanik, Qualität und Funktionalität. Für weitere Einzelheiten über das NanoWizard® AFM und weitere Produkte besuchen Sie uns auf der JPK Webseite www.jpk.com oder auf Facebook.
Die neu entwickelten QI(TM) und QI(TM) Advanced Modes machen das NanoWizard® 3 AFM zu einem der vielseitigsten Instrumente sowohl für die High-End-Forschung als auch für die Routinearbeit. Im Vergleich zu anderen bildgebenden Modi erfasst QI(TM) echte quantitative Daten. Das AFM entwickelt sich damit von einem rein bildgebenden zu einem quantitativ messenden Instrument. So können echte und vollständige Kraft-Abstands-Kurven in jedem Pixel des Bildes mit allen Informationen und somit die lokale Spitzen-Proben- Wechselwirkung mit hoher räumlicher Auflösung gemessen werden.
Das QI(TM) Advanced Software Paket ist eine Erweiterung der Standard-QI(TM) -Version und ermöglicht die quantitative Messung von nanoskaligen Materialeigenschaften wie z.B. Steifigkeit, Haftung, Dissipation und weiteren. Auch hier sind die Bilddaten quantitativ und haben eine hohe räumliche Auflösung.
Heiko Haschke (Head of applications and customer support) sagt über die neue QI(TM) Funktion: "Wir haben diese Technologie entwickelt damit jeder vom Anfänger bis hin zum Fortgeschrittenen diese bedienen kann. Sie bietet gleichzeitig viele erweiterte Optionen, um allen Bedürfnissen der Anwender selbst auch zur Nutzung eigener Datenverarbeitungsroutinen gerecht zu werden. Wir messen damit tatsächlich komplette Kraftkurven in jedem Pixel, was einen wirklichen Nutzen für unsere Anwender darstellt - easy-to-produce quantitative data."
Eine umfassende Broschüre beschreibt viele weitere Anwendungsbereiche. JPK entwickelt, konstruiert und fertigt Instrumente in Deutschland zu weltweit anerkannten Standards der deutschen Feinmechanik, Qualität und Funktionalität. Für weitere Einzelheiten über das NanoWizard® AFM und weitere Produkte besuchen Sie uns auf der JPK Webseite www.jpk.com oder auf Facebook.
