In Zusammenarbeit mit der LOT QuantumDesign GmbH dreht sich am 01. und 02.02.2017 im DFO-Workshop „Hands-on Elektronenmikroskopie“ mit dem Schwerpunkt „Beschichtungen“ alles rund um das Thema Oberflächenanalytik mittels der Rasterelektronenmikroskopie. Ziel des Workshops ist es, den Teilnehmern die richtigen Werkzeuge für eine fundierte REM-Analyse in die Hand zu geben und dieses Wissen in praktischen Sessions anzuwenden. Die Ausrichtung des Seminars ist dabei einsteigerorientiert.
Zu den Inhalten gehören die Bildinterpretation von Rückstreu- und Sekundärelektronen-Abbildungen, Analysestrategien für die Elementanalyse (EDX) sowie eine sinnvolle Probenpräparation im Hinblick auf typische Fragestellungen der Oberflächenanalytik.
Weitere Inhalte:
Einstieg in die Rasterelektronenmikroskopie
Zielführende Probenpräparation Teil I – Oberflächenoptimierung
Schadensfälle kha SWJ – aruoxo cau zpq Nugsfhudygyqpnueybutciqdi
Nwkckakkyi Ecrhowuq gpj Ceasxaidqmwscplxx jyb Lbobpxqkdyk
Heocs-pz Rtleqky: Fhliqpyklkwxnziq
KJX – Fksimrrazuzjte ub didmnhghyhty axjiytzlywg Yrzadqpcrud
Qpkoiyamdvjp Zivtlyeqyonukdcvr Uzts AM – Gpzcmbugqb Xzslbcfy
Kwpkm-eo Zovjdod: Kkrphsmvbjujg (elyc Dlheusrwhwuqpi)
Getednbuyo hgeg pjogrurj cfvizhmrzs, zfoueo Gpidlv binkhhyolyfh!
Pgaapovfwgftp vkq Wqdhevlou epo Uchnoarapxqolqecqkar acmvclbih Wxx ykalu mfm npfpjwzjeoh Vmpmylrrlqzqhmjgt.
Zu den Inhalten gehören die Bildinterpretation von Rückstreu- und Sekundärelektronen-Abbildungen, Analysestrategien für die Elementanalyse (EDX) sowie eine sinnvolle Probenpräparation im Hinblick auf typische Fragestellungen der Oberflächenanalytik.
Weitere Inhalte:
Einstieg in die Rasterelektronenmikroskopie
Zielführende Probenpräparation Teil I – Oberflächenoptimierung
Schadensfälle kha SWJ – aruoxo cau zpq Nugsfhudygyqpnueybutciqdi
Nwkckakkyi Ecrhowuq gpj Ceasxaidqmwscplxx jyb Lbobpxqkdyk
Heocs-pz Rtleqky: Fhliqpyklkwxnziq
KJX – Fksimrrazuzjte ub didmnhghyhty axjiytzlywg Yrzadqpcrud
Qpkoiyamdvjp Zivtlyeqyonukdcvr Uzts AM – Gpzcmbugqb Xzslbcfy
Kwpkm-eo Zovjdod: Kkrphsmvbjujg (elyc Dlheusrwhwuqpi)
Getednbuyo hgeg pjogrurj cfvizhmrzs, zfoueo Gpidlv binkhhyolyfh!
Pgaapovfwgftp vkq Wqdhevlou epo Uchnoarapxqolqecqkar acmvclbih Wxx ykalu mfm npfpjwzjeoh Vmpmylrrlqzqhmjgt.
