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Pressefach: RFID im Blick
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Zahlreiche RFID-Anwendungen im CeBIT Forum AutoID/RFID 2010
Tägliche Praxisvorträge von Fashion bis Fälschungsschutz
(PresseBox) Amelinghausen, 10.02.2010,
Im CeBIT Forum AutoID/RFID in Halle 6 auf der CeBIT vom 2. bis 6. März 2010 stehen praxisnahe Anwendungen innovativer AutoID/RFID-Technologien im Blickpunkt. Vorträge in Form von Success-Stories und Ergebnisberichten dominieren das Fachforum an den fünf Veranstaltungstagen. In acht anwendungsorientierten Schwerpunkten berichten mehr als 40 Referenten über Projekterfahrungen und diskutieren aktuelle AutoID/RFID-Trends.
Zu den Kernthemen zählen Anwendungen in Bibliotheken und auf dem Gesundheitssektor, Innovationen im Bereich NFC, eID-Anwendungen bei Ausweisdokumenten sowie Produkt- und Markenschutz. Der Branchenfokus liegt auf der Automobilindustrie, der Logistik und der Bekleidungswirtschaft. Die Themenschwerpunkte 'Bibliotheken und Museen' sowie 'Healthcare' werden maßgeblich von dem Sponsor Feig Electronic unterstützt. Die Themenschwerpunkte 'Transport & Logistik' sowie 'Telematik' werden inhaltlich durch den Sponsor Psion Teklogix mit koordiniert. Auch in 2010 wird das Fachforum im Auftrag der Deutschen Messe koordiniert von dem Fachmagazin 'RFID im Blick'.
Anwender erhalten Praxiswissen aus erster Hand: Erfahren Sie von Vertretern namhafter Unternehmen, welche Optimierungspotenziale sich durch den AutoID/RFID-Einsatz erzielen lassen und welche zukünftigen Perspektiven diese für die Produktionssteuerung, in der logistischen Kette, dem Handel oder im Qualitätsmanagement aufzeigen.
Das vollständige Programm zum CeBIT Forum AutoID/RFID 2010, Themenbeiträge der Sponsoren sowie weitere Informationen rund um das Forum und den AutoID/RFID Solutions Park in Halle 6 stehen unter www.cebit-forum-autoid-rfid.de zur Verfügung.
Kontakt
Anja Van Bocxlaer
Chefredakteurin 'RFID im Blick'
info@rfid-im-blick.de
www.rfid-im-blick.de
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