Der deutsche Hersteller Sibress präsentiert auf der drupa 2012 verschiedene neue und weiterentwickelte Mess- und Qualitätssicherungslösungen für Aniloxwalzen sowie Flexo- und Tiefdruckformen.
Das Anilox- und Tiefdruckzylinder-Messsystem MD-3DQC bildet die Ergebnisse in grafischer 3D-Darstellung und als numerisches Ergebnis ab. Eine neuartige Optik ermöglicht das Messen von grob gerasterten Bereichen mit weniger als 10 L/cm (< 25 lpi). In der höchsten Optikauflösung können Raster von über 800 L/cm (> 2032 lpi) analysiert werden. Die Ergebnisse liegen dann in weniger als 35 Sekunden vor.
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Das Anilox- und Tiefdruckzylinder-Messsystem MD-3DQC bildet die Ergebnisse in grafischer 3D-Darstellung und als numerisches Ergebnis ab. Eine neuartige Optik ermöglicht das Messen von grob gerasterten Bereichen mit weniger als 10 L/cm (< 25 lpi). In der höchsten Optikauflösung können Raster von über 800 L/cm (> 2032 lpi) analysiert werden. Die Ergebnisse liegen dann in weniger als 35 Sekunden vor.
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