Analyse mit Tiefgang

Fachbereich Chemie nimmt neue Anlage in Betrieb

(PresseBox) (Marburg, ) Am Fachbereich Chemie der Philipps-Universität Marburg gibt es seit diesem Monat eine Anlage, die es gestattet, chemische Analysen von grenzflächennahen Bereichen von Materialien durchzuführen. Die TOF-SIMS (timeofflight secondary ion mass spectrometry) genannte Anlage wurde über einen Großgeräteantrag durch die Deutsche Forschungsgemeinschaft finanziert. Hauptantragsteller waren die Professoren Dr. Bernhard Roling und Dr. Karl-Michael Weitzel.

Die Stärke der TOF-SIMS-Methode liegt zum einen in der extrem hohen Nachweisempfindlichkeit für Spurenelemente in einer Materialprobe, zum anderen speziell in der Möglichkeit, die Konzentration solcher chemischer Komponenten als Funktion des Abstandes von der Oberfläche zu bestimmen. Dies konstituiert eine so genannte Tiefenprofilanalyse; die Tiefenauflösung liegt im Bereich von einem bis zwei Nanometern. Derartige Tiefenprofilanalysen sind vor allem im Bereich der Physikalischen Chemie und der Materialwissenschaften von großer Bedeutung, jedoch auch in diversen anderen Teilgebieten der Chemie.

"Ein Beispiel einer geplanten Anwendung liegt in der Tiefenprofilanalyse elektrisch vorgepolter ionenleitender Gläser, ein anderes in der Tiefenprofilanalyse derartiger Gläser nach Ionenimplantation", erklärt Weitzel.

Diese Pressemitteilungen könnten Sie auch interessieren

News abonnieren

Mit dem Aboservice der PresseBox, erhalten Sie tagesaktuell und zu einer gewünschten Zeit, relevante Presseinformationen aus Themengebieten, die für Sie interessant sind. Für die Zusendung der gewünschten Pressemeldungen, geben Sie bitte Ihre E-Mail-Adresse ein.

Es ist ein Fehler aufgetreten!

Vielen Dank! Sie erhalten in Kürze eine Bestätigungsemail.


Ich möchte die kostenlose Pressemail abonnieren und habe die Bedingungen hierzu gelesen und akzeptiert.