Neue E-Feldquellen für die entwicklungsbegleitende Untersuchung der Störfestigkeit

(PresseBox) (Bannewitz, ) Mehr Funktionaliät in der Entwicklung einer elektronischen Baugruppe ohne zusätzlichen Platzbedarf stellen immer höhere Anforderungen an die Mess- und Prüftechnik. Eine davon ist punktgenaue Einspeisung von transienten Störgrößen in dicht gepackte Struckturen zur Prüfung der Störfestigkeit einzelner Bausteine in seiner Einbauumgebung.

Die neue Sonde ES 08 D wurde als E-Feldquelle zum Bestimmen der Empfindlichkeit von IC-Pin und Leiterzügen - ins¬besondere bei sehr kleinen Strukturen - entwickelt. Den Elektronikentwicklern werden für das Einkoppeln von Burstimpulsen zwei Feldquellen bereitgestellt, eine Sonde für Generatoren nach EN 61000-4-4 (Burstimpulse 5/50 s) mit hoher Spannungsfestigkeit bis 4 kV und eine Sonde für den SGZ 21 von der Langer EMV-Technik bis 2 kV (Burstimpulse mit 2/10ns). Beide Sonden sind mit einer Gleichtaktdämpfung ausgestattet.

Zum Test wird die Sondenspitze mit dem Pin/Leiterzug kontaktiert und durch Änderung der Intensität der Spannung am Burst-Generator die Empfindlichkeit ermittelt. Innerhalb der Sonde wird der Burstimpuls kapazitiv auf die Sondenspitze gekoppelt.

Der Vorteil dieser Sonden ist die genaue selektive Einkopplung von hohen Spannungen in Pins oder Leiterzügen in kleinen elektronischen Strukturen zur Ermittlung deren Störfestigkeit.

Diese Pressemitteilungen könnten Sie auch interessieren

News abonnieren

Mit dem Aboservice der PresseBox, erhalten Sie tagesaktuell und zu einer gewünschten Zeit, relevante Presseinformationen aus Themengebieten, die für Sie interessant sind. Für die Zusendung der gewünschten Pressemeldungen, geben Sie bitte Ihre E-Mail-Adresse ein.

Es ist ein Fehler aufgetreten!

Vielen Dank! Sie erhalten in Kürze eine Bestätigungsemail.


Ich möchte die kostenlose Pressemail abonnieren und habe die Bedingungen hierzu gelesen und akzeptiert.