EyeSIS - das System für die Inspektion von Oberflächen

(PresseBox) (Karlsruhe, ) Das neue Surface Inspection System EyeSIS von EVT bietet dem Anwender jetzt ein kompaktes Oberflächeninspektionssystem mit integrierter Software. Das System eignet sich besonders für die Oberflächeninspektion von Aluminium, Plastik, Papier, Glas und weiteren Materialien und kommt überall dort zum Einsatz, wo ein hochwertiges Erscheinungsbild der Oberfläche gefordert ist.

Das ready-to-use System erkennt problemlos Kratzer, Randausbrüche, Dellen, Rost, Einschlüsse, sowie Verunreinigungen auf den zu prüfenden Objekten.

Für die Prüfung der Objekte muss das System nur einmal mithilfe der EyeVision Software parametriert werden. Der Einlern-Vorgang erfolgt dabei, wie bereits aus den EyeSpector Systemen bekannt. In nur wenigen Schritten kann das System an einem Muster-Bauteil, einem sogenannten golden part, eingelernt werden. Nach einmaligem Einlernen, erfolgt die Prüfung autonom, ohne einen PC.

Fortan werden alle Oberflächenfehler der zu prüfenden Bauteile erkannt.

Entsprechend der Ausprägung der Unregelmäßigkeiten kann zwischen zulässigen Unregelmäßigkeiten wie Bearbeitungsspuren und Fehlern unterschieden werden.

Durch die Aneinanderreihung mehrerer Systeme, hat der Anwender die Möglichkeit die zu prüfenden Objekte mit unterschiedlichen Methoden auszuwerten. So wird die Prüfsicherheit erhöht und Pseudoausschuss reduziert.

EyeSIS garantiert dem Anwender eine schnelle und lückenlose Fehlerdetektion. Aufgrund hoher Scangeschwindigkeiten und Sensorauflösungen erkennt das System auch kleinste Fehler auf den ?m2 genau. Aufgrund dieser Eigenschaften eignet sich EyeSIS besonders für den Einsatz in der Qualitätssicherung.

Die Auswertesoftware des Inspektionssystems sammelt während der laufenden Produktion alle Informationen über die Fehlermerkmale und meldet diese umgehend dem Anwender.

Sämtliche erkannten Fehler und deren Klassifikation können über das EyeZIP-Protokoll zu einem Leitrechner übertragen werden. Dieser kann dann auch die Fehler von verschiedenen Bereichen (z.B. von mehreren EyeSIS) fusionieren und so ein Gesamtergebnis erzeugen.

Die Ergebniswerte stehen dann entweder dem System oder aber dem Fusionsrechner (Leitrechner) an einer integrierten Schnittstelle als Gut-/Schlecht Signal zur Verfügung.

Das EyeView Protokoll mit EyeZIP erlaubt es dem Anwender sowohl die Auswertedaten wie auch die Bilddaten des Sensors zu übertragen, sodass für den Anwender im Fehlerfall die Fehlerquelle direkt sichtbar ist. Somit kann der Anwender den Produktionsprozess kontinuierlich und systematisch verbessern.

Die Weiterentwicklung des EyeView-Protokolls in Verbindung mit dem EyeZIP-Protokoll erlaubt es zudem eine Übersichtgrafik für bis zu 64 Sensoren darzustellen.

EyeZIP verfügt optional über Softwareschnittstellen zu SAP, ORACLE oder in eine SQL-Datenbank, sodass Mess- und Prüfergebnisse direkt ihren Weg in die Firmensoftware oder in die Verwaltungsdatenbank finden. Eine direkte Schnittstelle zur SPC-Software ist ebenfalls optional vorhanden.

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