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Advantest stellt Speicher-Testsystem T5811 vor
Konzentration auf Speicher-Core-Test ermöglicht dramatische Senkung der Testkosten
(PresseBox) (München, Deutschland, )
Advantest Corporation stellt das neue Speicher-Testsystem T5811 vor, das speziell für den Test von DRAM-Speicher-Cores entwickelt wurde. Das T5811 ist ab Juli 2012 verfügbar und zeichnet sich im Vergleich zu den bisherigen Modellen durch einen um 90 % geringeren Stromverbrauch aus und benötigt zwei Drittel weniger Platz. Zudem ist es über einen Austausch von Komponenten einfach erweiterbar. Das System wird im Zuge der ADVANTEST EXPO 2012, die vom 6. bis 7. Juni in Tokio stattfindet, vorgestellt.
Neue Lösung reduziert Testkosten bei Standard-DRAMs
DRAMs (Dynamic Random Access Memory) gehören zu den am häufigsten in Personal Computern (PC) und Workstations, aber auch in mobilen Anwendungen eingesetzten Speicherbauteilen. Das stabile Bit-Wachstum von DDR3-SDRAM und DDR4-SDRAM, den dominierenden Speichertypen in PCs, lässt ein kontinuierliches Marktwachstum erwarten. Die Anforderungen von Smartphones und Tablet-Computern im Hinblick auf eine niedrige Leistungsaufnahme stützen die Vorhersage nach einer rasch zunehmenden Nachfrage nach LPDDR2- und LPDDR3-SDRAMs. Dadurch sinken auch die Preise für DRAMs kontinuierlich, so dass die Chiphersteller gezwungen sind die Testkosten bei der Serienfertigung weiter zu reduzieren. Der Backend-DRAM-Test wird üblicherweise in einen Speicher-Core-Test und einen Test mit voller Geschwindigkeit unterteilt. Das neue T5811 Speichertestsystem von Advantest erlaubt eine dramatische Reduzierung der Testkosten, indem es sich auf den Core-Test konzentriert.
Produktmerkmale
ETH-Technologie erlaubt drastische Reduzierung der Testkosten
Die Enhanced Test Head (ETH) Technologie von Advantest, eine proprietäre BOST-Konfiguration, hält die Kosten des Tester-Mainframes niedrig, indem die kompletten Testerfunktionalität auf das Motherboard und in die Nähe des DUTs verlagert wird. Die ETH-Technologie ermöglicht zudem eine Erweiterbarkeit über ein einfaches Austauschen der Komponenten der Enhanced Test Module (ETM). Dadurch kann Funktionalität hinzugefügt und die Testgeschwindigkeit beliebig erhöht werden, was sowohl aktuell wie auch künftig eine deutliche Reduzierung der Testkosten erlaubt.
90 % geringerer Stromverbrauch, um 2/3 kleinere Grundfläche
Im Vergleich zu bisherigen Testern verbraucht das T5811 um 90 % weniger Strom und benötigt zwei Drittel weniger Platz, da mit der proprietären ETH-Technologie von Advantest nahezu die gesamte Testerfunktionalität auf dem Motherboard untergebracht wird.
Einfache Testprogrammerstellung
Darüber hinaus arbeitet das T5811 auf der Basis des Tester-Betriebssystems "Future Suite" von Advantest. Dieses erlaubt eine Nutzung der umfassenden Programm-Bibliothek für die Testsysteme der Serie T55xx, unabhängig davon, ob eine BOST-Konfiguration vorhanden ist oder nicht.
Technische Daten
Zielbauteile: LPDDR2/3-SDRAM, DDR3-SDRAM und DDR4-SDRAM-Cores
Parallele Testkapazität: 512 (x8 I/O)
Maximale Testgeschwindigkeit: 600 MHz / 1,2 Gbps
Neue Lösung reduziert Testkosten bei Standard-DRAMs
DRAMs (Dynamic Random Access Memory) gehören zu den am häufigsten in Personal Computern (PC) und Workstations, aber auch in mobilen Anwendungen eingesetzten Speicherbauteilen. Das stabile Bit-Wachstum von DDR3-SDRAM und DDR4-SDRAM, den dominierenden Speichertypen in PCs, lässt ein kontinuierliches Marktwachstum erwarten. Die Anforderungen von Smartphones und Tablet-Computern im Hinblick auf eine niedrige Leistungsaufnahme stützen die Vorhersage nach einer rasch zunehmenden Nachfrage nach LPDDR2- und LPDDR3-SDRAMs. Dadurch sinken auch die Preise für DRAMs kontinuierlich, so dass die Chiphersteller gezwungen sind die Testkosten bei der Serienfertigung weiter zu reduzieren. Der Backend-DRAM-Test wird üblicherweise in einen Speicher-Core-Test und einen Test mit voller Geschwindigkeit unterteilt. Das neue T5811 Speichertestsystem von Advantest erlaubt eine dramatische Reduzierung der Testkosten, indem es sich auf den Core-Test konzentriert.
Produktmerkmale
ETH-Technologie erlaubt drastische Reduzierung der Testkosten
Die Enhanced Test Head (ETH) Technologie von Advantest, eine proprietäre BOST-Konfiguration, hält die Kosten des Tester-Mainframes niedrig, indem die kompletten Testerfunktionalität auf das Motherboard und in die Nähe des DUTs verlagert wird. Die ETH-Technologie ermöglicht zudem eine Erweiterbarkeit über ein einfaches Austauschen der Komponenten der Enhanced Test Module (ETM). Dadurch kann Funktionalität hinzugefügt und die Testgeschwindigkeit beliebig erhöht werden, was sowohl aktuell wie auch künftig eine deutliche Reduzierung der Testkosten erlaubt.
90 % geringerer Stromverbrauch, um 2/3 kleinere Grundfläche
Im Vergleich zu bisherigen Testern verbraucht das T5811 um 90 % weniger Strom und benötigt zwei Drittel weniger Platz, da mit der proprietären ETH-Technologie von Advantest nahezu die gesamte Testerfunktionalität auf dem Motherboard untergebracht wird.
Einfache Testprogrammerstellung
Darüber hinaus arbeitet das T5811 auf der Basis des Tester-Betriebssystems "Future Suite" von Advantest. Dieses erlaubt eine Nutzung der umfassenden Programm-Bibliothek für die Testsysteme der Serie T55xx, unabhängig davon, ob eine BOST-Konfiguration vorhanden ist oder nicht.
Technische Daten
Zielbauteile: LPDDR2/3-SDRAM, DDR3-SDRAM und DDR4-SDRAM-Cores
Parallele Testkapazität: 512 (x8 I/O)
Maximale Testgeschwindigkeit: 600 MHz / 1,2 Gbps
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